Wyszukiwarka
Abstrakt
Zaproponowano nowe podejście do oceny lokalnych właściwości elektrycznych powłok organicznych. Wykorzystuje ono mikroskop sił atomowych pracujący w trybie kontaktowym. Pomiędzy igłę mikroskopu i podłoże metalowe pokryte powłoką przykładany jest sinusoidalny napięciowy sygnał pobudzenia o zadanej częstotliwości i mierzony jest prądowy sygnał odpowiedzi. Zalety tego podejścia zostały zaprezentowane na przykładzie powłoki akrylowej poddanej działaniu dwóch, różnych czynników niszczących - promieniowania ultrafioletowego i ekspozycji na elektrolit. Możliwe było wykrycie wczesnych etapów degradacji powłoki, ich przestrzenne zlokalizowanie i rozróżnienie mechanizmów degradacji tej samej powłoki eksponowanej na różne czynniki degradujące
Autorzy (3)
Cytuj jako
Pełna treść
- Wersja publikacji
- Accepted albo Published Version
- Licencja
-
otwiera się w nowej karcie
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuł w czasopiśmie wyróżnionym w JCR
- Opublikowano w:
-
Journal of Coatings Technology and Research
nr 10,
wydanie 1,
strony 65 - 72,
ISSN: 1945-9645 - Język:
- angielski
- Rok wydania:
- 2012
- Opis bibliograficzny:
- Szociński M., Darowicki K., Schaefer K.: Aplication of impedance imaging to evaluation of organic coating degradation at a local scale// Journal of Coatings Technology and Research. -Vol. 10, iss. 1 (2012), s.65-72
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 92 razy