Abstract
Pomimo dużego technologicznego zainteresowania tytanowymi kompozytami bazującymi na c-BN daje się zauważyć wyraźny brak danych dotyczących lokalnego otoczenia atomów Ti w tego typu materiałach. Główna przyczyna tego stanu rzeczy tkwi w trudności związanej z analizą układu wielofazowego o dużej twardości za pomocą konwencjonalnych metod. Praca poświęcona jest analizie składu i struktury tytanowych kompozytów za pomocą atomowo-selektywnych metod spektroskopowych:XANES (X-ray absorption near-edge spectroscopy) i XPS (X-ray photoelectron spectroscopy).
Authors (9)
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Articles
- Type:
- artykuł w czasopiśmie z listy filadelfijskiej
- Language:
- English
- Publication year:
- 2004
- Bibliographic description:
- Piskorska E., Ławniczak-Jabłońska K., Demchenko I., Minikayev R., Benko E., Klimczyk P., Witkowska A., Welter E., Heinonen M.: Characterization of the c-BN/TiC, Ti3SiC2 systems by element selectivespectroscopy.// . -., (2004),
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 57 times
Recommended for you
Możliwości wykorzystania spektroskopii fotoelektronów w analizie jakości środowiska wodnego
- J. Ryl,
- T. Ossowski,
- M. Elektorowicz
- + 1 authors
2020