Characterization of the c-BN/TiC, Ti3SiC2 systems by element selectivespectroscopy. - Publication - Bridge of Knowledge

Search

Characterization of the c-BN/TiC, Ti3SiC2 systems by element selectivespectroscopy.

Abstract

Pomimo dużego technologicznego zainteresowania tytanowymi kompozytami bazującymi na c-BN daje się zauważyć wyraźny brak danych dotyczących lokalnego otoczenia atomów Ti w tego typu materiałach. Główna przyczyna tego stanu rzeczy tkwi w trudności związanej z analizą układu wielofazowego o dużej twardości za pomocą konwencjonalnych metod. Praca poświęcona jest analizie składu i struktury tytanowych kompozytów za pomocą atomowo-selektywnych metod spektroskopowych:XANES (X-ray absorption near-edge spectroscopy) i XPS (X-ray photoelectron spectroscopy).

Cite as

Full text

full text is not available in portal

Keywords

Details

Category:
Articles
Type:
artykuł w czasopiśmie z listy filadelfijskiej
Language:
English
Publication year:
2004
Bibliographic description:
Piskorska E., Ławniczak-Jabłońska K., Demchenko I., Minikayev R., Benko E., Klimczyk P., Witkowska A., Welter E., Heinonen M.: Characterization of the c-BN/TiC, Ti3SiC2 systems by element selectivespectroscopy.// . -., (2004),
Verified by:
Gdańsk University of Technology

seen 57 times

Recommended for you

Meta Tags