Characterization of the c-BN/TiC, Ti3SiC2 systems by element selectivespectroscopy. - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Characterization of the c-BN/TiC, Ti3SiC2 systems by element selectivespectroscopy.

Abstrakt

Pomimo dużego technologicznego zainteresowania tytanowymi kompozytami bazującymi na c-BN daje się zauważyć wyraźny brak danych dotyczących lokalnego otoczenia atomów Ti w tego typu materiałach. Główna przyczyna tego stanu rzeczy tkwi w trudności związanej z analizą układu wielofazowego o dużej twardości za pomocą konwencjonalnych metod. Praca poświęcona jest analizie składu i struktury tytanowych kompozytów za pomocą atomowo-selektywnych metod spektroskopowych:XANES (X-ray absorption near-edge spectroscopy) i XPS (X-ray photoelectron spectroscopy).

Cytuj jako

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Słowa kluczowe

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Publikacja w czasopiśmie
Typ:
artykuł w czasopiśmie z listy filadelfijskiej
Język:
angielski
Rok wydania:
2004
Opis bibliograficzny:
Piskorska E., Ławniczak-Jabłońska K., Demchenko I., Minikayev R., Benko E., Klimczyk P., Witkowska A., Welter E., Heinonen M.: Characterization of the c-BN/TiC, Ti3SiC2 systems by element selectivespectroscopy.// . -., (2004),
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 57 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi