Search
Abstract
Przedstawiono zależności Mott'a - Schottky'ego dla różnych częstotliwości pomiarowych. Kształt uzyskanych zależności zależy od doboru tych częstotliwości. Związane jest to z tym, że stężenie defektów w warstwie pasywnej zależy od doboru częstotliwości. Metoda DEIS pozwala na uniknięcie tych niedogodności.
Authors (3)
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Articles
- Type:
- artykuł w czasopiśmie z listy filadelfijskiej
- Published in:
-
ELECTROCHIMICA ACTA
no. 51,
pages 2204 - 2208,
ISSN: 0013-4686 - Language:
- English
- Publication year:
- 2006
- Bibliographic description:
- Darowicki K., Krakowiak S., Ślepski P.: Selection of measurement frequency in Mott-Schottky analysis of passive layer on nickel// ELECTROCHIMICA ACTA. -Vol. 51., (2006), s.2204-2208
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 128 times
Recommended for you
Analiza dynamiczna anteny satelitarnej z uwzględnieniem podatności członów
- K. Augustynek,
- S. Wojciech,
- E. Wittbrodt
2008