Selection of measurement frequency in Mott-Schottky analysis of passive layer on nickel

Kazimierz Darowicki; Stefan Krakowiak; Paweł Ślepski

Selection of measurement frequency in Mott-Schottky analysis of passive layer on nickel

Abstract

Przedstawiono zależności Mott'a - Schottky'ego dla różnych częstotliwości pomiarowych. Kształt uzyskanych zależności zależy od doboru tych częstotliwości. Związane jest to z tym, że stężenie defektów w warstwie pasywnej zależy od doboru częstotliwości. Metoda DEIS pozwala na uniknięcie tych niedogodności.

Authors (3)

Cite as

Full text

full text is not available in portal

Keywords

Details

Category:: Articles
Type:: artykuł w czasopiśmie z listy filadelfijskiej
Published in:: ELECTROCHIMICA ACTA no. 51, pages 2204 - 2208,
ISSN: 0013-4686
Language:: English
Publication year:: 2006
Bibliographic description:: Darowicki K., Krakowiak S., Ślepski P.: Selection of measurement frequency in Mott-Schottky analysis of passive layer on nickel// ELECTROCHIMICA ACTA. -Vol. 51., (2006), s.2204-2208
Verified by:: Gdańsk University of Technology