Search
Search results for: MIKROSKOPIA AFM
-
Application of dynamic impedance spectroscopy to atomic force microscopy
PublicationMikroskopia sił atomowych jest uniwersalną techniką obrazowania powierzchni podczas gdy spektroskopia impedancyjna jest fundamentalną metodą charakteryzowania właściwości elektrycznych materiałów. Z powyższego względu użyteczne jest połączenie powyższych technik dla uzyskania przestrzennego rozkładu wektora impedancji. W pracy autorzy proponują nowe podejście polegające na połączeniu multiczęstotliwościowego pomiaru impedancyjnego...
-
Skaningowa impedancyjna mikroskopia sił atomowych
PublicationW pracy przedstawiono nowatorskie podejście do analizy impedancyjnej sprzężonej z mikroskopią sił atomowych. Stosowane współcześnie metody pomiaru impedancyjnego w kontaktowym trybie AFM opierają się na punktowym pomiarze zmiennoprądowym z wykorzystaniem sekwencyjnego, sinusoidalnego pobudzania badanego obiektu. Autorzy proponują wykorzystanie techniki dynamicznej, co umożliwia uzyskiwanie widm impedancyjnych w warunkach ciągłego...
-
Toward mechanosynthesis of diamondoid structures: vii. simple strategy of building atomically perfect spm tip through attachment of c60 molecule to commercial silicon tip by controlled hydrogen atom desorption from tip asperity si(111) silicon surface
PublicationZaproponowano strategię unieruchomienia cząsteczki c60 na ostrzu chandlowego czujnika spm zbudowanego z krzemu. strategia składa się z czterech prostych etapów i prowadzi do ostrza spm o atomowo zdefiniowanej budowie. modelowanie właściwości ostrza sugeruje, że mogło by ono mieć zastosowanie w mechanosyntezie.
-
Dynamiczna spektroskopia impedancyjna w mikroskopowej analizie powierzchni metalicznych
PublicationW pracy przedstawiono możliwość zastosowania dynamicznej spektroskopii impedancyjnej do pomiaru lokalnej impedancji z wykorzystaniem mikroskopu AFM. Kontakt sondy mikroskopu z próbką jest układem dynamicznym, który ulega ciągłym zmianom. Skanowanie powierzchni, zmiana docisku sondy, czy nawet dryft skanera piezoelektrycznego powodują zmianę geometrii kontaktu sonda-próbka. W związku z tym klasyczna odmiana pomiaru impedancji...
-
Positron-annihilation monitoring of reduction processes in conducting glasses.
PublicationW publikacji podano wyniki badań metodą anihilacji pozytronów szkieł bizmutowo-krzemianowych, bizmutowo-germanianowych i ołowiowo-krzemianowych. Stwierdzono istnienie defektów wywołanych redukcją w atmosferze wodoru. Przeprowadzono analizę głębokości występowania defektów oraz ich rozmiarów.