Skaningowa impedancyjna mikroskopia sił atomowych

Kazimierz Darowicki; Artur Zieliński

Skaningowa impedancyjna mikroskopia sił atomowych

Abstract

W pracy przedstawiono nowatorskie podejście do analizy impedancyjnej sprzężonej z mikroskopią sił atomowych. Stosowane współcześnie metody pomiaru impedancyjnego w kontaktowym trybie AFM opierają się na punktowym pomiarze zmiennoprądowym z wykorzystaniem sekwencyjnego, sinusoidalnego pobudzania badanego obiektu. Autorzy proponują wykorzystanie techniki dynamicznej, co umożliwia uzyskiwanie widm impedancyjnych w warunkach ciągłego skanowania powierzchni.

Authors (2)

Cite as

Full text

full text is not available in portal

Keywords

Details

Category:: Articles
Type:: artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
Published in:: Ochrona przed Korozją no. 1, pages 335 - 339,
ISSN: 0473-7733
Language:: Polish
Publication year:: 2007
Bibliographic description:: Darowicki K., Zieliński A.: Skaningowa impedancyjna mikroskopia sił atomowych// Ochrona przed Korozją. -Vol. 1., nr. 11s/A (2007), s.335-339
Verified by:: Gdańsk University of Technology