Search
Filters
total: 15
Search results for: SKANINGOWY MIKROSKOP TUNELOWY
-
ZESTAW MIKROSKOPÓW 3 MIKROSKOPY SXIŁ ATOMOWYCH + MIKROSKOP TUNELOWY
Research Equipment -
Advanced XAS analysis for investigating fuel cell electrocatalysts
PublicationW pracy została zaprezentowana analiza XAFS nanocząstek platyny używanych jako materiał katalityczny w niskotemperaturowych ogniwach paliwowych. Analiza danych EXAFS została przeprowadzona za pomocą zaawansowanej metody GNXAS, w której wzięto pod uwagę rozkład rozmiaru granul nano-platyny i niejednorodność warstwy katalitycznej elektrody, badane za pomocą SEM (skaningowy mikroskop elektronowy), TEM (transmisyjny mikroskop elektronowy)...
-
Badania uszkodzeń powłok ceramicznych wskutek tarcia ślizgowego w ruchu postępowo-zwrotnym = Wear pattern testing of ceramic coatings under reciprocating sliding
PublicationBadano (wykorzystując mikroskop optyczny oraz skaningowy) morfologię uszkodzeń wybranych powłok ceramicznych ( m.in. DLC z dodatkiem wolframu) nakładanych na podłoże stalowe, będących skutkiem tarcia slizgowego w ruchu postępowo-zwrotnym skojarzenia kula-powierzchnia płaska. Ślady zużycia na kulach, czyli obszary wygładzonych plateau, mają kształt zbliżony do elipsy. Praca, przy zmiennym zwrocie sił stycznych działających na powierzchnię...
-
The effects of growth conditions on superconducting properties of Nd1Ba2Cu3O7-ë single crystals.
PublicationW pracy przedstawiono rezultaty badan wpływu warunków wzrostu kryształów Nd1Ba2Cu3O7-d na ich własności nadprzewodzące. Kryształy hodowano metodą spontanicznego wzrostu z fazy ciekłej. Mikrostruktura kryształów została zbadana skaningowym mikroskopem elektronowym oraz skaningowym mikroskopem tunelowym. Własności nadprzewodzące badano przeprowadzając pomiary momentu magnetycznego w funkcji temperatury.W przypadku badanych kryształów...
-
Wykorzystanie metod analizy obrazów do wyznaczania udziału objętościowego faz
PublicationPraca przedstawia możliwości wykorzystania analizy obrazów w określaniu udziału objętościowego składników strukturalnych. W badaniach wykorzystano mikroskop świetlny, sprzężony poprzez kamerę CCD, z komputeremz zainstalowanym programem do analizy obrazów MultiScan.
-
Measurement of surface flatness after lapping
PublicationPrzedstawiono sposób pomiaru płaskości powierzchni w docieraniu z wykorzystaniem metody sztucznych baz Vickersa. W analizie wykorzystano skomputeryzowane stanowisko do badań mikroskopowych, wyposażone w mikroskop stereoskopowy, kamerę CCD oraz program MultiScan.
-
Systemy automatycznej kontroli wymiarowej mikroziaren ściernych
PublicationPrzedstawiono wyniki badań wymiarów mikroziaren ściernych stosowanych w operacjach docierania. Badania z wykorzystaniem analizatora laserowego poprzedziła analiza mikroskopowa rzutów mikroziaren na płaszczyznę obserwacji. Analizowano wymiary (długość i szerokość) oraz pole powierzchni jego obrazu. Pomiary przeprowadzono na skomputeryzowanym stanowisku, wyposażonym w mikroskop stereoskopowy, kamerę CCD i oprogramowanie MultiScan...
-
Aplication of impedance imaging to evaluation of organic coating degradation at a local scale
PublicationZaproponowano nowe podejście do oceny lokalnych właściwości elektrycznych powłok organicznych. Wykorzystuje ono mikroskop sił atomowych pracujący w trybie kontaktowym. Pomiędzy igłę mikroskopu i podłoże metalowe pokryte powłoką przykładany jest sinusoidalny napięciowy sygnał pobudzenia o zadanej częstotliwości i mierzony jest prądowy sygnał odpowiedzi. Zalety tego podejścia zostały zaprezentowane na przykładzie powłoki akrylowej...
-
Local impedance spectra of organic coatings
PublicationPublikacja przedstawia nowe podejście do lokalnych spektroskopowych pomiarów impedancyjnych powłok organicznych, oparte o mikroskop sił atomowych pracujący w trybie kontaktowym. Pomiędzy nieporuszającą się igłę mikroskopu i podłoże metalowe pokryte powłoką epoksydową przyłożono serię sinusoidalnych napięciowych sygnałów pobudzenia w zadanym zakresie częstotliwości. W ten sposób zarejestrowano lokalne widma w trybie "frequency by...
-
Mikroskop
Research Equipment -
MIKROSKOP HALLA
Research Equipment -
MIKROSKOP ELEKTRONOWY
Research Equipment -
MIKROSKOP ELEKTRONOWY
Research Equipment -
MIKROSKOP KONFOKALNY
Research Equipment -
Mikroskop metalograficzny NIKON ECLIPSE LV150N
Research Equipment