Didn't find any results in this catalog!
But we have some results in other catalogs.Filters
total: 1578
-
Catalog
- Publications 929 available results
- Journals 251 available results
- Conferences 218 available results
- Publishing Houses 1 available results
- People 124 available results
- Research Equipment 1 available results
- e-Learning Courses 26 available results
- Events 5 available results
- Open Research Data 23 available results
displaying 1000 best results Help
Search results for: MAGISTRALA TESTUJĄCA IEEE 11497
-
Testowanie układów cyfrowych z wykorzystaniem magistrali IEEE 1149.7
PublicationPrzedstawiono opracowaną w grudniu 2009 r. cyfrową magistralę testującą IEEE 1149.7 przeznaczoną do testowania i debuggingu wielordzeniowych układów wbudowanych. W stosunku do magistrali IEEE1149.1, której jest rozszerzeniem, magistrala IEEE1149.7 zapewnia zredukowaną do dwóch liczbę wyprowadzeń, możliwość pracy w konfiguracji gwiazdowej, indywidualne adresowanie urządzeń, eliminację ze ścieżki brzegowej nieaktywnych układów, zarządzanie...
-
Diagnostyka układów analogowych z wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo IEEE 1149.4
PublicationW pracy przedstawiono wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo IEEE 1149.4 do diagnostyki układów analogowych. Diagnostykę przeprowadzono metodą analityczną opartą na twierdzeniu Tellegena, metodą oscylacyjną oraz metodą transformacji biliniowej. W badaniach użyto prototypowych układów scalonych typu MNABST-1 firmy Matsushita wyposażonych w magistralę. Do pomiarów zastosowano wektorowego oraz multimetr...
-
Zastosowanie magistrali testującej IEEE 1149.6 do diagnostyki układów cyfrowych sprzężonych pojemnościowo
PublicationPrzedstawiono magistralę ułatwionego testowania standardu IEEE 1149.6 przeznaczoną do diagnostyki złożonych układów cyfrowych sprzężonych pojemnościowo. Zaprezentowano metody transmisji sygnałów cyfrowych o b. wysokich częstotliwościach, a następnie przedstawiono rozwiązania kluczowych elementów magistrali: komórkę brzegowego rejestru wyjściowego z nadajnikiem sygnałów testowych oraz detektor sygnałów różnicowych o sprzężeniu pojemnościowym....
-
Diagnostyka układów elektronicznych z magistralą testującą
PublicationWzrost złożoności i miniaturyzacji układów oraz urządzeń elektronicznych, przyczyniając się do polepszenia ich parametrów użytkowych i obniżania kosztów wytwarzania, wiąże się z niepożądanymi efektami ubocznymi, takimi jak wzrost kosztów aparatury pomiarowo-kontrolnej oraz wzrost pracochłonności, związanej z opracowaniem metod i programów testujących. Problemy te są inspiracją do rozwinięcia metod projektowania tzw. testowalnych...
-
Metody pomiaru elementów pasywnych z wykorzystaniem układów STA400 wyposażonych w magistralę testującą mieszaną sygnałowo IEEE 1149.4
PublicationPrzedstawiono wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo IEEE 1149.4 do pomiarów elementów pasywnych zamontowanych na pakietach elektronicznych. Do badań użyto wyposażonych w magistralę prototypowych układów scalonych typu STA400. Pomiary przeprowadzano metodami proponowanymi w normie IEEE 1149.4 oraz nowoopracowanymi metodami zorientowanymi na testowanie magistralowe. Zaprezentowano metodykę pomiarów...
-
Zastosowanie układów testowych STA 400 z magistralą testującą mieszaną sygnałowo IEEE 1149.4 do diagnostyki układów analogowych
PublicationPrzedstawiono wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo zgodnej ze standardem IEEE 1149.4 do diagnostyki wybranych struktur analogowych. Do badań użyto wyposażonych w magistralę prototypowych układów scalonych typu STA400 opracowanych w końcu 2001 r. w firmie NationalSemiconductor i Logic Vision. Diagnostykę przeprowadzono metodą analityczną opartą na twierdzeniu Tellegena dla 3 i 5-elementowych...
-
Ćwiczenie laboratoryjne - kontroler magistrali IEEE 1149.1. 2003.
Publication.
-
IEEE Access
Journals -
Diagnostyka analogowych filtrów wielosekcyjnych oparta na magistrali testującej IEEE1149.1
PublicationPrzedstawiono nową koncepcję testera JTAG BIST do samo-testowania torów analogowych opartych na wielosekcyjnych filtrach wyższego rzędu w mieszanych sygnałowo mikrosystemach elektronicznych sterowanych mikrokontrolerami i wyposażonych w magistralę testującą IEEE1149.1 (JTAG). Bazuje ona na metodzie diagnostycznej opartej na przekształce-niu transformującym próbki odpowiedzi czasowych kolejnych sekcji filtra pobudzonego impulsem...
-
Stanowisko laboratoryjne do diagnostyki układów elektronicznych za pomocą mieszanej sygnałowo magistrali testującej.
PublicationPrzedstawiono stanowisko laboratoryjne do testowania układów elektronicznych z wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo, zgodnej ze standardem IEEE 1149.4. Stanowisko laboratoryjne zrealizowano w oparciu o wyposażone w magistralę IEEE 1149.4 układy scalone STA400, opracowane przez firmę National Semiconductor i Logic Vision. Sterowanie magistralą odbywa się poprzez kontroler wykonany z wykorzystaniem portu równoległego...