Katedra Metrologii i Optoelektroniki - Jednostki Administracyjne - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Katedra Metrologii i Optoelektroniki

Filtry

wszystkich: 758

  • Kategoria
  • Rok
  • Opcje

wyczyść Filtry wybranego katalogu niedostępne

Katalog Publikacji

Rok 2006
  • On-Board Detection, Classification and Evaluation of Nonlinearities
    Publikacja

    Artykuł prezentuje tester wbudowany BIT przeznaczony do wydobywania informacji diagnostycznej z sygnału generowanego przy zastosowaniu oscylacyjnej metody testowania. Układ bazujący na technice modulacji Sigma-Delta i sztucznych sieciach neuronowych może wykrywać nieliniowość w sygnale testującym, określać rodzaj nieliniowości i szacować zawartość harmonicznych.

Rok 2004
Rok 2003