Problems of Atomic Science and Technology - Czasopismo - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Problems of Atomic Science and Technology

ISSN:

1562-6016

Dyscypliny:

  • automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
  • inżynieria biomedyczna (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
  • inżynieria materiałowa (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
  • biologia medyczna (Dziedzina nauk medycznych i nauk o zdrowiu)
  • biotechnologia (Dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych)
  • nauki chemiczne (Dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych)
  • nauki fizyczne (Dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych)

Punkty Ministerialne: Pomoc

Punkty Ministerialne - aktualny rok
Rok Punkty Lista
Rok 2024 20 Ministerialna lista czasopism punktowanych 2024
Punkty Ministerialne - lata ubiegłe
Rok Punkty Lista
2024 20 Ministerialna lista czasopism punktowanych 2024
2023 20 Lista ministerialna czasopism punktowanych 2023
2022 20 Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022)
2021 20 Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022)
2020 20 Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022)
2019 20 Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022)
2018 15 A
2017 15 A
2015 15 A
2014 15 A
2013 15 A
2012 15 A
2011 15 A

Model czasopisma:

Open Access

Impact Factor:

Zaloguj się aby zobaczyć Współczynnik Impact Factor dla tego czasopisma

Filtry

wszystkich: 2

  • Kategoria
  • Rok

wyczyść Filtry wybranego katalogu niedostępne

Katalog Czasopism

Rok 2017
Rok 2016
  • DETERMINATION OF SP3 FRACTION IN ta-C COATING USING XPS AND RAMAN SPECTROSCOPY
    Publikacja
    • V. Zavaleyev
    • J. Walkowicz
    • M. Sawczak
    • M. Klein
    • D. Moszyński
    • R. Chodun
    • K. Zdunek

    - Problems of Atomic Science and Technology - Rok 2016

    The paper presents results of studies on the structure of tetrahedral amorphous carbon films (ta-C) with a thickness in the range from 20 to 280 nm, deposited using pulsed vacuum arc technique with an electromagnetic Venetian blind plasma filter. The results of the phase structure analysis, obtained using visible Raman spectroscopy and UV Raman spectroscopy methods, showed a strong dependence of the results on the presence, on...

    Pełny tekst do pobrania w serwisie zewnętrznym

wyświetlono 711 razy