Wyszukiwarka
ISSN:
Dyscypliny:
- automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
- inżynieria biomedyczna (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
- inżynieria lądowa, geodezja i transport (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
- inżynieria materiałowa (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
- inżynieria mechaniczna (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
- nauki farmaceutyczne (Dziedzina nauk medycznych i nauk o zdrowiu)
- astronomia (Dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych)
- nauki chemiczne (Dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych)
- nauki fizyczne (Dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych)
Punkty Ministerialne: Pomoc
| Rok | Punkty | Lista |
|---|---|---|
| Rok 2024 | 100 | Ministerialna lista czasopism punktowanych 2024 |
| Rok | Punkty | Lista |
|---|---|---|
| 2024 | 100 | Ministerialna lista czasopism punktowanych 2024 |
| 2023 | 100 | Lista ministerialna czasopism punktowanych 2023 |
| 2022 | 100 | Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022) |
| 2021 | 100 | Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022) |
| 2020 | 100 | Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022) |
| 2019 | 100 | Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022) |
| 2018 | 35 | A |
| 2017 | 35 | A |
| 2016 | 35 | A |
| 2015 | 35 | A |
| 2014 | 35 | A |
| 2013 | 35 | A |
| 2012 | 35 | A |
| 2011 | 35 | A |
| 2010 | 32 | A |
Model czasopisma:
Punkty CiteScore:
| Rok | Punkty |
|---|---|
| Rok 2023 | 8.1 |
| Rok | Punkty |
|---|---|
| 2023 | 8.1 |
| 2022 | 7.4 |
| 2021 | 6.7 |
| 2020 | 5.8 |
| 2019 | 5.2 |
| 2018 | 4.5 |
| 2017 | 4.5 |
| 2016 | 4.8 |
| 2015 | 4.5 |
| 2014 | 4.2 |
| 2013 | 4 |
| 2012 | 3.7 |
| 2011 | 4.3 |
Impact Factor:
Sherpa Romeo:
Prace opublikowane w tym czasopiśmie
Filtry
wszystkich: 9
Katalog Czasopism
Rok 2019
-
ZnO coated fiber optic microsphere sensor for the enhanced refractive index sensing
PublikacjaOptical fiber-based sensors are expected to become key components in the control of industrial processes,and the tuning and the enhancement of their sensing properties are crucial for the further developmentof this technology. Atomic Layer Deposition (ALD), a vapor phase technique allowing for the deposition ofconformal thin films, is particularly suited for the deposition of controllable thin films on challenging sub-strates....
Rok 2018
-
Time-domain measurement methods for R, L and C sensors based on aversatile direct sensor-to-microcontroller interface circuit
PublikacjatIn the paper new time-domain measurement methods for determining values of resistive (R), inductive(L) and capacitive (C) sensors based on a versatile direct sensor-to-microcontroller interface for microcon-trollers with internal analog-to-digital converters (ADCs) and analog comparators (ACs) are presented.The interface circuit consists of a reference resistor Rrworking as a voltage divider, a given R, L or C sensorand a microcontroller...
Rok 2015
-
ALD thin ZnO layer as an active medium in a fiber-optic Fabry-Perot interferometer
Publikacja.
-
ALD thin ZnO layer as an active medium in a fiber-optic Fabry–Perot interferometer
Publikacja
Rok 2013
-
Spectroscopic wireless sensor of hematocrit level
PublikacjaAn optical method for hematocrit measurement is presented. The sensor, designed and developed by authors, consists of a spectroscopic set-up and a microcontroller. The work of the sensor is based on measurement of intensity of two selected spectral bands. Tests confirmed the ability of the sensor to determine the hematocrit level with appropriate measurement accuracy. Measurement results can be transmitted via wireless module to...
Rok 2012
-
A microcontroller system for measurement of three independent components in impedance sensors using a single square pulse
PublikacjaOpracowano nową metodę pomiaru w dziedzinie czasu i wyznaczania trzech składowych elementów modelu czujnika impedancyjnego oraz zaimplementowano ją w inteligentnym czujniku impedancji sterowanym 8-bitowym mikrokontrolerem. Metoda bazuje na pobudzeniu dzielnika napięciowego składającego się z rezystora pełniącego funkcję konwertera prąd na napięcie i z czujnika impedancji pojedynczym impulsem prostokątnym o czasie trwania T bezpośrednio...
Rok 2010
-
Interface circuit for impedance sensors using two specialized single-chip microsystems
PublikacjaW artykule przedstawiono obwód interfejsu przeznaczony do pomiaru parametrów impedancyjnych czujników lub celek pomiarowych instalowanych na obiektach technicznych. Umożliwia on pomiar modułu i argumentu impedancji w zakresie 10ohm
Rok 2008
-
Polarization sensitive optical coherence tomography for technical materials investigation
PublikacjaZaprezentowano system optycznej tomografii koherentnej z analizą stanu polaryzacji światła. System umożliwia nieniszczące i bezkontaktowe badanie wewnętrznej struktury materiałów warstwowych. Przedstawiono zastosowaną metodę analizy stanu polaryzacji promieniowana wstecznie rozproszonego od badanego obiektu.
-
Polarization sensitive optical coherence tomography for technical materials investigation
Publikacja
wyświetlono 1273 razy