The influence of external interference on AFM imaging, the use of a protective helmet

Opis

This collection is of purely practical importance, showing how the presence of external disturbances can adversely affect the quality of imaging with an atomic force microscope. For this reason, it is also advisable to provide a link to a workshop-like study [1] as well as a huge number of commercial solutions available after entering the keyword "AFM antivibration". The laboratory, where these tests were carried out, is equipped with the TS150 anti-vibration stage, which provides active damping of mechanical vibrations in the frequency range from 0.7 to 300 Hz. Additionally, the measuring head can be covered with a protective cover ("helmet") which provides insulation against mechanical air vibrations and electromagnetic fields due to grounding. The differences in the results of imaging in the absence and use of the latter element are presented in this collection (the anti-vibration stage was active in both cases). The scans were made on the surface of a sapphire plate which is very smooth. This allows to see changes in the roughness distribution in both cases, caused by the superimposition of additional external interferences. The collection contains 4 images and 2 histograms of altitude data, first without a hard hat, then with the “helmet” on.

Reference:

[1] https://www.designworldonline.com/atomic-force-microscope-sees-vibration-isolation/

Plik z danymi badawczymi

Set10.mdt

536.8 kB, S3 ETag b8b18096aa5c7442579f441d2cd37c82-1, pobrań: 15

Hash pliku liczony jest ze wzoru
hexmd5(md5(part1)+md5(part2)+...)-{parts_count} gdzie pojedyncza część pliku jest wielkości 512 MB

Przykładowy skrypt do wyliczenia:
https://github.com/antespi/s3md5

pobierz

Informacje szczegółowe o pliku

Licencja:: otwiera się w nowej karcie

CC BY

Uznanie autorstwa
Dane surowe:: Dane zawarte w datasecie nie zostały w żaden sposób przetworzone.
Oprogramowanie:: Gwyddion

Informacje szczegółowe

Rok publikacji:

2021

Data zatwierdzenia:

2021-08-06

Język danych badawczych:

angielski

Dyscypliny:

inżynieria materiałowa (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
nauki chemiczne (Dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych)

DOI:

10.34808/d72n-hv87

Seria:

Scanning Probe Microscopies data

Weryfikacja:

Politechnika Gdańska

Słowa kluczowe

Cytuj jako

Autorzy

wyświetlono 52 razy

Wyszukiwarka