Abstrakt

W artykule przedstawiono nowy sposób kategoryzacji uszkodzeń w analogowych układach elektronicznych. Zaproponowano kryterium oparte na predykcji niestabilności indukowanej przez uszkodzenie w testowanym układzie. Przyjeto, że granicą pomiędzy uszkodzeniem miękkim i katastroficznym jest najmniejsza odchyłka parametru elementu, która sprowadza układ testowany do granicy stabilności. Wzrost wartości odchyłki poza wyznaczony margines powoduje niestabilność układu uniemożliwiającą jego poprawne funkcjonowanie, co oznacza, że uszkodzenie miękkie przechodzi w uszkodzenie katastroficzne. Przykładową kategoryzację uszkodzeń przeprowadzono dla filtru pasmowoprzepustowego 6. rzędu, z wielopętlowym sprzężeniem zwrotnym typu leapfrog. Do modelowania układu testowanego, zaburzonego przez uszkodzenie, zastosowano liniową transformację frakcyjną (LFT). Model układu, zrealizowany w środowisku Simulink, poddano analizie metodą strukturalnych wartości szczególnych (SSV), w wyniku której otrzymano wartości odchyłek parametrów uszkodzonych elementów od wartości nominalnych, równe marginesom stabilności. Poprawnośc wyników zweryfikowano metodą linii pierwiastkowych.

Autor (1)