Wyszukiwarka
A prediction of the fault-induced instability of circuit under test as a new approach in categorisation of faults.
Abstrakt
W artykule przedstawiono nowy sposób kategoryzacji uszkodzeń w analogowych układach elektronicznych. Zaproponowano kryterium oparte na predykcji niestabilności indukowanej przez uszkodzenie w testowanym układzie. Przyjeto, że granicą pomiędzy uszkodzeniem miękkim i katastroficznym jest najmniejsza odchyłka parametru elementu, która sprowadza układ testowany do granicy stabilności. Wzrost wartości odchyłki poza wyznaczony margines powoduje niestabilność układu uniemożliwiającą jego poprawne funkcjonowanie, co oznacza, że uszkodzenie miękkie przechodzi w uszkodzenie katastroficzne. Przykładową kategoryzację uszkodzeń przeprowadzono dla filtru pasmowoprzepustowego 6. rzędu, z wielopętlowym sprzężeniem zwrotnym typu leapfrog. Do modelowania układu testowanego, zaburzonego przez uszkodzenie, zastosowano liniową transformację frakcyjną (LFT). Model układu, zrealizowany w środowisku Simulink, poddano analizie metodą strukturalnych wartości szczególnych (SSV), w wyniku której otrzymano wartości odchyłek parametrów uszkodzonych elementów od wartości nominalnych, równe marginesom stabilności. Poprawnośc wyników zweryfikowano metodą linii pierwiastkowych.
Autor (1)
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Język:
- angielski
- Rok wydania:
- 2004
- Opis bibliograficzny:
- Toczek W.: A prediction of the fault-induced instability of circuit under test as a new approach in categorisation of faults.// . -., (2004), s.0-0
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 57 razy