Wyszukiwarka
Badanie właściwości fotoelektrycznych cienkich warstw tlenków TiO2:V na zautomatyzowanym stanowisku dla metody obic
Abstrakt
w rozdziale zaprezentowano wyniki badań właściwości fotoelektrycznych struktury tlenku tytanu domieszkowanego wanadem naniesionej na podłoże krzemowe. cienką warstwę tlenkową naniesiono w procesie rozpylania magnetronowego rozpylania magnetronowego. na podstawie badań stwierdzono występowanie efektu fotoelektrycznego na granicy cienka warstwa - podłoże krzemowe.
Autorzy (5)
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja monograficzna
- Typ:
- rozdział, artykuł w książce - dziele zbiorowym /podręczniku o zasięgu krajowym
- Tytuł wydania:
- XVI krajowa konferencja komputerowe wspomaganie badań naukowych/ komputerowe wspomaganie badań naukowych XVI strony 93 - 99
- Język:
- polski
- Rok wydania:
- 2009
- Opis bibliograficzny:
- Sieradzka K., Bogdan A., Domaradzki J., Łapiński M., Górnicka B.: Badanie właściwości fotoelektrycznych cienkich warstw tlenków TiO2:V na zautomatyzowanym stanowisku dla metody obic// XVI krajowa konferencja komputerowe wspomaganie badań naukowych/ komputerowe wspomaganie badań naukowych XVI/ ed. ed. Jan Zarzycki Wrocław: Wrocławskie Towarzystwo Naukowe, 2009, s.93-99
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 122 razy
Publikacje, które mogą cię zainteresować
Gasochromic effect in nanocrystalline TiO2 thin films doped with Ta and Pd
- J. Domaradzki,
- E. Prociów,
- D. Kaczmarek
- + 3 autorów
2009
Mobility measurements in oxide semiconductors
- E. Prociów,
- M. S. Łapiński,
- J. Domaradzki
- + 3 autorów
2009
Opis metody określania stopnia zwilżalności powierzchni cienkich warstw na przykładzie TiO2
- D. Wojcieszak,
- D. Kaczmarek,
- J. Domaradzki
- + 2 autorów
2009
Properties of nanocrystalline TiO2:V thin films as a transparent semiconducting oxides
- K. Sieradzka,
- J. Domaradzki,
- E. Prociów
- + 2 autorów
2009