Wyszukiwarka
Abstrakt
The research was aimed on defining a factor of quality for high-voltage varistors using Non-Destructive Testing (NDT) techniques, which could be applied during the production testing. The newly proposed parameter Q determined on the basis of the lowest resonant frequency fr measured within the preselected frequency range was taken into account. The parameter Q was defined for ZnO structures after firing, without metallized contacts. The results of investigations allow to conclude that the parameter Q can be used as the quality factor for high-voltage varistors classification into groups of differentiated quality.
Cytowania
-
3
CrossRef
-
0
Web of Science
-
4
Scopus
Autorzy (3)
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuł w czasopiśmie wyróżnionym w JCR
- Opublikowano w:
-
MICROELECTRONICS RELIABILITY
nr 49,
ISSN: 0026-2714 - Język:
- angielski
- Rok wydania:
- 2009
- Opis bibliograficzny:
- Hasse L., Konczakowska A., Smulko J.: Classification of high-voltage varistors into groups of differentiated quality// MICROELECTRONICS RELIABILITY. -Vol. 49, nr. iss. 12, December. (2009),
- DOI:
- Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.1016/j.microrel.2009.06.008
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 109 razy