Double-Quantum-Well AlGaN/GaN Field Effect Transistors with Top and Back Gates: Electrical and Noise Characteristics - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Double-Quantum-Well AlGaN/GaN Field Effect Transistors with Top and Back Gates: Electrical and Noise Characteristics

Abstrakt

Cytowania

  • 3

    CrossRef

  • 0

    Web of Science

  • 4

    Scopus

Autor (1)

  • Zdjęcie użytkownika  Lukasz Janicki

    Lukasz Janicki

Cytuj jako

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Publikacja w czasopiśmie
Typ:
Publikacja w czasopiśmie
Opublikowano w:
Micromachines nr 12, wydanie 6,
ISSN: 2072-666X
ISSN:
2072-666X
Rok wydania:
2021
DOI:
Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.3390/mi12060721
Weryfikacja:
Brak weryfikacji

wyświetlono 0 razy

Meta Tagi