Immunity of residual current devices to the impulse leakage current in circuits with variable speed drives - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Immunity of residual current devices to the impulse leakage current in circuits with variable speed drives

Abstrakt

This paper concerns reliability of supply in variable speed drive circuits with residual current devices. During normal operation of these circuits high value of leakage current causes unwanted tripping of residual current devices. Immunity of residual current devices to the impulse leakage current should be evaluated. The system for testing of residual current devices and results of the test are presented

Cytowania

  • 4

    CrossRef

  • 3

    Web of Science

  • 3

    Scopus

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Publikacja w czasopiśmie
Typ:
artykuł w czasopiśmie wyróżnionym w JCR
Opublikowano w:
Elektronika Ir Elektrotechnika nr 19, strony 15 - 18,
ISSN: 1392-1215
Język:
angielski
Rok wydania:
2013
Opis bibliograficzny:
Czapp S., Borowski K.: Immunity of residual current devices to the impulse leakage current in circuits with variable speed drives// Elektronika Ir Elektrotechnika. -Vol. 19, nr. 8 (2013), s.15-18
DOI:
Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.5755/j01.eee.19.8.2883
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 13 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi