Low frequency noise and DLTS as silicon solar cell characterization tools - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Low frequency noise and DLTS as silicon solar cell characterization tools

Abstrakt

Praca zawiera wyniki pomiarów DLTS próbek o powierzchni 1 mm2 krzemowych baterii słonecznych wykazujących znaczne niejednorodności wykryte za pomocą metody LBIV (Light Beam Induced Voltage). Wyniki pomiarów charakterystyk stałoprądowych oraz szumowych tych próbek zostały także przedstawione.

Zdenek Chobola, Zbynek Ruzicka, Lech Hasse. (2002). Low frequency noise and DLTS as silicon solar cell characterization tools. Elektronika : Konstrukcje, Technologie, Zastosowania, 43(6), 32-33. Retrieved from

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Publikacja w czasopiśmie
Typ:
artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
Opublikowano w:
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania nr 43, strony 32 - 33,
ISSN: 0033-2089
Język:
angielski
Rok wydania:
2002
Opis bibliograficzny:
Chobola Z., Ruzicka Z., Hasse L.: Low frequency noise and DLTS as silicon solar cell characterization tools// Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania. -Vol. 43., nr. 6 (2002), s.32-33

wyświetlono 1 razy

Meta Tagi