Nonlinear and fluctuation phenomena as reliability predictors for foil capacitors - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Nonlinear and fluctuation phenomena as reliability predictors for foil capacitors

Abstrakt

W trakcie procesu produkcyjnego kondensatorów przeciwzakłóceniowych wymagane jest przeprowadzenie testów jakości i trwałości. Do tego celu bardzo przydatna byłaby procedura szybkich testów nieniszczących. Rozwiązaniem problemu może być implementacja w systemie realizującym testy produkcyjne dodatkowych zadań związanych z bezpośrednimi pomiarami nieliniowości i/lub fluktuacji. Wybór wskaźnika trzeciej harmonicznej (THI), parametru szumowego (metody i warunków przeprowadzania jego pomiaru) oraz reguł klasyfikacji wszystkich testowanych kondensatorów na grupy o zróżnicowanej niezawodności stwarza możliwość predykcji niezawodności indywidualnie dla każdego testowanego elementu. Przeanalizowano nieliniowości i właściwości szumowe kondensatora w celu ustalenia kryteriów selekcji kondensatorów przeciwzakłóceniowych na grupy o zróżnicowanej trwałości i niezawodności podczas testów produkcyjnych. W przypadku kondensatorów polistyrenowych wymagana jest najwyższa stabilność a pomiar THI zapewnia weryfikację tego wymagania. Kształt funkcji gęstości rozkładu parametru THI jest bardzo istotny jako podstawa przy ustalaniu kryterium klasyfikacji kondensatorów na grupy o zróżnicowanej trwałości. Analiza uzyskanych wyników potwierdziła relację, że ze wzrostem wartości pojemności kondensatora, średnia wartość funkcji rozkładu THI (dla danej technologii wytwarzania elementu) również wzrasta.Przedstawione zostały wybrane wyniki eksperymentalne dla tych kondensatorów.

Cytuj jako

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Publikacja w czasopiśmie
Typ:
artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
Opublikowano w:
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania nr R. 47, strony 45 - 48,
ISSN: 0033-2089
Język:
angielski
Rok wydania:
2006
Opis bibliograficzny:
Hasse L., Turczyński J., Spiralski L.: Nonlinear and fluctuation phenomena as reliability predictors for foil capacitors// Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania. -Vol. R. 47., nr. nr. 1 (2006), s.45-48
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 10 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi