Phase diagram of P3HT:PC70BM thin films based on variable-temperature spectroscopic ellipsometry - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Phase diagram of P3HT:PC70BM thin films based on variable-temperature spectroscopic ellipsometry

Abstrakt

Cytowania

  • 1 3

    CrossRef

  • 0

    Web of Science

  • 1 3

    Scopus

Autorzy (6)

  • Zdjęcie użytkownika  B. Hajduk

    B. Hajduk

  • Zdjęcie użytkownika  H. Bednarski

    H. Bednarski

  • Zdjęcie użytkownika  B. Jarząbek

    B. Jarząbek

  • Zdjęcie użytkownika  P. Nitschke

    P. Nitschke

  • Zdjęcie użytkownika  H. Janeczek

    H. Janeczek

Cytuj jako

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Publikacja w czasopiśmie
Typ:
Publikacja w czasopiśmie
Opublikowano w:
POLYMER TESTING nr 84,
ISSN: 0142-9418
ISSN:
01429418
Rok wydania:
2020
DOI:
Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.1016/j.polymertesting.2020.106383
Weryfikacja:
Brak weryfikacji

wyświetlono 23 razy

Meta Tagi