Wyniki wyszukiwania dla: NIEZAWODNOŚĆ ELEMENTÓW ELEKTRONICZNYCH

• Rozpoznawanie elementów elektronicznych w obudowach SOT-23

  Publikacja

  • R. Kowalski
  • A. Szewczyk

  - Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej - Rok 2015

  Produkowane obecnie elementy elektroniczne do montażu powierzchniowego (SMD) mają tak małe obudowy, że producenci nie są w stanie umieszczać na nich dostatecznej ilości oznaczeń umożliwiających ich jednoznaczną identyfikację. Ponadto, podobnie jak w przypadku elementów do montażu przewlekanego, w obudowie jednego typu mogą być zamknięte różne rodzaje elementów. Przykładem takiej obudowy jest obudowa SOT-23 (Small Outline Transistor)....

  Pełny tekst do pobrania w portalu

• Ocena jakości elementów elektronicznych na podstawie szumów 1/f.

  Publikacja

  • A. Konczakowska

  - Elektronizacja: podzespoły i zastosowania elektroniki - Rok 2002

  We wszystkich elementach występują samoistne źródła szumów, a przebiegi szumowe są zazwyczaj traktowane jako sygnały niepożądane. Szum elementów elektronicznych może być jednak traktowany jako sygnał związany z jakością badanego elementu. Przedstawiono szumy własne elementów elektronicznych jako dwie składowe: szumy naturalne i szumy nadmiarowe. Omówiono powiązania tych składowych z jakością elementów. Przytoczono parametry...

• Cooling of electronic equipment by means of jets and microjets

  Publikacja

  • D. Mikielewicz
  • J. Mikielewicz

  - Rok 2007

  W pracy przedstawiono rozwiązanie sprzężonej wymiany ciepła od uderzającej strugi cieczy oraz przewodzenia ciepła w łytce. Uzyskano proste zależności opisujące rozkład temperatur na płytce. Umożliwia to przeprowadzenie analizy wpływu różnych parametró na wymianę ciepła podczas chłodzenia urządzeń elektronicznych generujących ciepło.

• Wejściowo-wyjściowa metoda detekcji uszkodzeń w elektronicznych układach analogowych uwzględniająca tolerancje elementów.

  Publikacja

  • Z. Czaja

  - Rok 2004

  Przedstawiono nowe podejście detekcji i lokalizacji uszkodzeń w elektronicznych układach analogowych z uwzględnieniem tolerancji elementów. Składa się ono z dwóch etapów. W pierwszym etapie tworzony jest słownik uszkodzeń składający się z opisu elipsy aproksymującej obszar nominalny reprezentujący brak uszkodzeń i współczynników określających szerokość pasów lokalizacyjnych. Zaprezentowano nowy algorytm tworzenia takiej elipsy...

• Lokalizacja uszkodzeń w częściach analogowych wbudowanych systemów elektronicznych z uwzględnieniem tolerancji elementów

  Publikacja

  • Z. Czaja

  - Measurement Automation Monitoring - Rok 2007

  W artykule przedstawiono nową metodę detekcji i lokalizacji uszkodzeń parametrycznych elementów pasywnych w częściach analogowych elektronicznych systemów wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Metoda pozwala na detekcję i lokalizację uszkodzeń w układach z tolerancjami. W części pomiarowej metody badany układ pobudzany jest impulsem prostokątnym generowanym przez mikrokontroler, a jego odpowiedź jest próbkowana przez wewnętrzny...

• Układ do pomiaru charakterystyk prądowo-napięciowych elementów elektronicznych zwłaszcza złącz półprzewodnikowych elementów elektronicznych dużej mocy

  Wynalazki

  • Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki

• Głowica do pomiaru temperatury elementów elektronicznych

  Wynalazki

  • Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki

• Janusz Smulko prof. dr hab. inż.

  Osoby

  Katedra Metrologii i Optoelektroniki

  Urodził się 25 kwietnia 1964 r. w Kolnie. Ukończył w 1989 r. z wyróżnieniem Wydział Elektroniki Politechniki Gdańskiej, specjalność aparatura pomiarowa. Zajął II miejsce w konkursie Czerwonej Róży na najlepszego studenta Wybrzeża w 1989 r. Od początku kariery związany z Politechniką Gdańską: asystent (1989–1996), adiunkt (1996–2012), profesor nadzwyczajny PG (od 2012). Odbył staże naukowe w Texas A&M University (2003, NATO...

• Stanisław Szczepański prof. dr hab. inż.

  Osoby

  Katedra Systemów Mikroelektronicznych

• Układy Cyfrowe - projekt

  Kursy Online

  • K. Cisowski

  Zajęcia o charakterze ćwiczeniowym związane projektowania układów cyfrowych. Metody projektowania i syntezy układów cyfrowych kombinacyjnych i sekwencyjnych synchronicznych z wykorzystaniem elementów elektronicznych o małej i średniej skali integracji.