Wyszukiwarka
Filtry
wszystkich: 29
wybranych: 10
-
Katalog
Filtry wybranego katalogu
Wyniki wyszukiwania dla: UKŁADY ANALOGOWE I MIESZANE SYGNAŁOWO
-
Badania zakłóceń sprzężenia podłożowego w mieszanych analogowo-cyfrowych u- kładach scalonych CMOS.**2002, 126 s. 97 rys. 29 tab. bibliogr. 101 poz. maszyn. Rozprawa doktorska /19.11.2002/. P. Gdań. Wydz. ETI Promotor: prof. zw. dr hab. inż. Michał Białko.
PublikacjaW realizacjach scalonych układy analogowe są szczególnie wrażliwe na zakłó-cenia przenoszone przez podłoże. Odpowiednia geometria pierścieni ochronnychjest skuteczną ochroną przed zakłóceniami, których źródłem są układy cyfrowewykonane w tym samym podłożu półprzewodnikowym.
-
Mixed systems with minimal and maximal lifetime variances
PublikacjaRozważa się mieszane układy złożone ze stałej liczby składników, których czasy zycia są niezależnymi zmiennymi losowymi o jednakowym rozkładzie i dodatniej wariancji. Bada się minimalną i maksymalną wariancję czasu życia rozważanych układów.
-
Wpływ ograniczników: kąta mocy, prądu stojana i wzbudzenia na rozwój awarii napięciowej
PublikacjaArtykuł prezentuje badania symulacyjne dotyczące wpływu ograniczników: kąta mocy, prądu stojana i prądu wzbudzenia na pracę i rozwój awarii napięciowej w systemie elektroenergetycznym. W badaniach brano pod uwagę rozwiązania analogowe oraz obecnie montowane cyfrowe układy automatycznej regulacji napięcia.
-
Stanowisko laboratoryjne do diagnostyki układów elektronicznych za pomocą mieszanej sygnałowo magistrali testującej.
PublikacjaPrzedstawiono stanowisko laboratoryjne do testowania układów elektronicznych z wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo, zgodnej ze standardem IEEE 1149.4. Stanowisko laboratoryjne zrealizowano w oparciu o wyposażone w magistralę IEEE 1149.4 układy scalone STA400, opracowane przez firmę National Semiconductor i Logic Vision. Sterowanie magistralą odbywa się poprzez kontroler wykonany z wykorzystaniem portu równoległego...
-
Design of a 3.3V four-quadrant analog CMOS multiplier
PublikacjaW pracy przedstawiono dwa czterokwadrantowe mnożniki analogowe CMOS pracujące przy napięciu zasilania 3.3V. Układy wykorzystują tranzystory MOS pracujące zarówno w zakresie nasycenia jak i w zakresie triodowym. Wyniki symulacji komputerowych pokazują, że współczynnik zawartości harmonicznych (THD) sygnału wyjściowego jest mniejszy niż 0.75% dla sygnału wejściowego o amplitudzie 1V o częstotliwości 10MHz. Pasmo 3dB układu wynosi...
-
Stanowisko laboratoryjne do testowania analogowych układów elektronicznych z wykorzystaniem magistrali IEEE 1149.4.
PublikacjaPrzedstawiono stanowisko laboratoryjne do testowania analogowych układów elektronicznych z wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo zgodnej ze standardem IEEE 1149.4. Stanowisko laboratoryjne zorganizowano w oparciu o pierwsze komercyjne układy wyposażone w magistralę IEEE 1149.4 - układy scalone STA400, opracowane przez firmę National Semiconductor i Logic Vision. Sterowanie magistralą odbywa się poprzez kontroler...
-
Wykorzystanie technik testowania magistralowego układów cyfrowych i analogowych w laboratorium Systemów Testujących Produkcji Komputerowo Zintegrowanej
PublikacjaW referacie zaprezentowano metodykę nauczania oraz aspekty techniczne ćwiczeń w laboratorium Systemów Testujących Produkcji Komputerowo Zintegrowanej, prowadzonym dla studentów piątego roku specjalności Skomputeryzowane Systemy Elektroniczne na Wydziale Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki Politechniki Gdańskiej. Metodyka ćwiczeń oparta jest na wykorzystaniu metod symulacji komputerowej oraz praktycznych badaniach na stanowiskach...
-
Tester wbudowany BIST dla mieszanych sygnałowo pakietów elektronicznych
PublikacjaZaproponowano oszczędne i nieinwazyjne rozwiązanie testera wbudowanego BIST dla w pełni różnicowej części analogowej układu mieszanego sygnałowo. Wymienione cechy testera osiągnięto wykorzystując właściwości nowo opracowanych wzmacniaczy operacyjnych z wewnętrznym sprzężeniem zwrotnym dla sygnału wspólnego oraz modyfikując dotychczas stosowaną metodę testowania.
-
Testery wbudowane (BIST) układów analogowych i mieszanych sygnałowo
PublikacjaOmówiono metody realizacji w technice analogowej i cyfrowej wbudowanych źródeł sygnałów testujących. Zaprezentowano sposoby analizy odpowiedzi: metodę histogramową, cyfrowego przetwarzania sygnałów oraz wykorzystanie koncepcji "macierzy z sumą kontrolną". Przedstawiono metodę testowania oscylacyjnego oraz DACBIST przeznaczony do testowania przetworników C/A, łączący testowanie oscylacyjne z techniką modulacji sigma-delta.
-
Technika sygnałów analogowych. - Tom 1,2
Publikacjaom I składa się z sześciu rozdziałów. W rozdziale 1 scharakteryzowano sygnały, elementy, układy i systemy analogowe. Poznanie właściwości elementów ma kluczowe znaczenie przy przewidywaniu właściwości zbudowanych z nich układów elektronicznych. Podobnie znajomość podstawowych praw rządzących rozkładami prądów i napięć ma zasadnicze znaczenie dla zrozumienia metod analizy układów elektronicznych. Rozdział 2 jest poświęcony liniowym...