Wyszukiwarka
Wyniki wyszukiwania dla: mikroskopia tunelowa afm/stm
Znaleźliśmy mało wyników, wypróbuj alternatywnej metody wyszukiwania.
Filtry
wszystkich: 1
Wyniki wyszukiwania dla: mikroskopia tunelowa afm/stm
-
Application of dynamic impedance spectroscopy to atomic force microscopy
PublikacjaMikroskopia sił atomowych jest uniwersalną techniką obrazowania powierzchni podczas gdy spektroskopia impedancyjna jest fundamentalną metodą charakteryzowania właściwości elektrycznych materiałów. Z powyższego względu użyteczne jest połączenie powyższych technik dla uzyskania przestrzennego rozkładu wektora impedancji. W pracy autorzy proponują nowe podejście polegające na połączeniu multiczęstotliwościowego pomiaru impedancyjnego...