Filtry
wszystkich: 30800
wybranych: 3
-
Katalog
- Publikacje 8961 wyników po odfiltrowaniu
- Czasopisma 181 wyników po odfiltrowaniu
- Konferencje 95 wyników po odfiltrowaniu
- Osoby 180 wyników po odfiltrowaniu
- Wynalazki 1 wyników po odfiltrowaniu
- Projekty 9 wyników po odfiltrowaniu
- Laboratoria 1 wyników po odfiltrowaniu
- Zespoły Badawcze 3 wyników po odfiltrowaniu
- Kursy Online 91 wyników po odfiltrowaniu
- Wydarzenia 5 wyników po odfiltrowaniu
- Dane Badawcze 21273 wyników po odfiltrowaniu
Filtry wybranego katalogu
Wyniki wyszukiwania dla: EDGE DETECTION, IMAGE PROCESSING, HIGH VOLTAGE LINES DETECTION, FPGA IMAGE PROCESSING
-
Katedra Elektrotechniki, Systemów Sterowania i Informatyki
Zespoły BadawczeW Katedrze Elektrotechniki, Systemów Sterowania i Informatyki prowadzone są badania w tematyce podstaw elektrotechniki, zaawansowanych systemów sterowania, prototypowania dedykowanych rozwiązań sprzętowych w FPGA. Prowadzone badania skupiają się również na wykorzystaniu zaawansowanych technik analizy komputerowej w systemach sterowania oraz elektrotechniki.
-
Katedra Automatyki Napędu Elektrycznego i Konwersji Energii
Zespoły Badawcze* nieliniowe sterowanie maszynami elektrycznymi * napędy elektryczne o sterowaniu bez czujnikowym * sterowanie przekształtnikami energoelektronicznymi, w tym przekształtnikami na średnie napięcia i przekształtnikami sieciowymi * energoelektroniczne układy przetwarzania energii w odnawialnych źródłach energii * projektowanie i badanie falowników i przetwornic * projektowanie układów sterowania mikroprocesorowego z wykorzystaniem...
-
Zespół Systemów Mikroelektronicznych
Zespoły Badawcze* projektowania I optymalizacji układów i systemów mikroelektronicznych * zaawansowane metody projektowania i optymalizacji analogowych filtrów aktywnych * programowanie układów scalonych (FPGA, CPLD, SPLD, FPAA) * układy specjalizowane ASIC * synteza systemów o małym poborze mocy * projektowanie topografii układów i zagadnień kompatybilności elektromagnetycznej * modelowania przyrządów półprzewodnikowych * modelowania właściwości...