Wyniki wyszukiwania dla: MIKROSKOPIA TUNELOWA AFM/STM

• Application of dynamic impedance spectroscopy to atomic force microscopy

  Publikacja

  • K. Darowicki
  • A. Zieliński
  • J. K. Kurzydłowski

  - SCIENCE AND TECHNOLOGY OF ADVANCED MATERIALS - Rok 2008

  Mikroskopia sił atomowych jest uniwersalną techniką obrazowania powierzchni podczas gdy spektroskopia impedancyjna jest fundamentalną metodą charakteryzowania właściwości elektrycznych materiałów. Z powyższego względu użyteczne jest połączenie powyższych technik dla uzyskania przestrzennego rozkładu wektora impedancji. W pracy autorzy proponują nowe podejście polegające na połączeniu multiczęstotliwościowego pomiaru impedancyjnego...

  Pełny tekst do pobrania w serwisie zewnętrznym