Wyniki wyszukiwania dla: ellipsometric modeling

• JOURNAL OF MOLECULAR MODELING

  Czasopisma

  ISSN: 1610-2940 , eISSN: 0948-5023

• Ellipsometric data analysis used in on-line metal passivation monitoring

  Publikacja

  • R. Bogdanowicz
  • J. Ryl

  - The European Physical Journal-Special Topics - Rok 2007

  Pełny tekst do pobrania w serwisie zewnętrznym

• A review of applications of ellipsometry in corrosion research

  Publikacja

  • W. Felisiak

  - Physico-Chemical Mechanics of Materials - Rok 2002

  Elipsometria jest to nieinwazyjna i bardzo dokładna technika pomiarowa znajdująca coraz więcej zastosowań w badaniach korozyjnych. Poglądowo przedstawiono aktualne zastosowania pomiarów elipsometrycznych. Przeglądu dokonano pod kątem przydatności elipsometrii do wyznaczania grubości oraz charakterystyki optycznej cienkich warstewek pasywnych pokrywających powierzchnię różnych metali. Opisano zastosowanie pomiarów elipsometrycznych...

• Ellipsometric study of oxide formation on Cu electrode in 0.1 M NaOH

  Publikacja

  • R. Bogdanowicz
  • J. Ryl
  • K. Darowicki
  • B. Kosmowski
  • K. Darowicki

  - JOURNAL OF SOLID STATE ELECTROCHEMISTRY - Rok 2009

  Pełny tekst do pobrania w serwisie zewnętrznym

• Ellipsometric study of carbon nitride films deposited by DC-magnetron sputtering

  Publikacja

  • R. Hippler
  • A. Majumdar
  • R. Bogdanowicz

  - Photonics Letters of Poland - Rok 2011

  Pełny tekst do pobrania w serwisie zewnętrznym

• Ellipsometric study of carbon nitride films deposited by DC-magnetron sputtering

  Publikacja

  • A. Majumdar
  • R. Bogdanowicz
  • R. Hippler

  - Photonics Letters of Poland - Rok 2011

  We report the optical properties of a carbon nitride (CNx) film as a function of nitrogen concentration (N/C) of the deposited film. As nitrogen concentration is increased (N/C ratio) in a CNx film, the refractive index and band gap also increase. The real and imaginary parts, n and k (refractive index and extinction coefficient) of the complex refraction index of carbon nitride films were determined by spectroscopic ellipsometry...

  Pełny tekst do pobrania w portalu

• Journal of Chemical Information and Modeling

  Czasopisma

  ISSN: 1549-9596 , eISSN: 1549-960X

• APPLIED MATHEMATICAL MODELLING

  Czasopisma

  ISSN: 0307-904X , eISSN: 1872-8480

• Elipsometric data analysis used in on-line metal passivation monitoring

  Publikacja

  • R. Bogdanowicz
  • J. Ryl

  - The European Physical Journal-Special Topics - Rok 2007

  Wykorzystano technikę elipsometrii monochromatycznej do opisu on-line warstw tlenkowych, elektroosadzanych na miedzi. Elipsometria jest w stanie dostarczyć informacji odnośnie grubości i współczynników załamania światła układów warstwowych, jednakże wymagane w tym celu jest zbudowanie matematycznego modelu odwzorowującego stałe optyczne układu badanego. W powyższej pracy przedyskutowane zostały różne metody dopasowywania modelu...

• Dependence Modeling

  Czasopisma

  ISSN: 2300-2298