Wyniki wyszukiwania dla: CHARAKTERYSTYKA SPEKTROSKOPOWA
Wyświetlane wyniki pochodzą z wyszukiwania alternatywnego.
Filtry
wszystkich: 2008
wybranych: 2
-
Katalog
- Publikacje 1755 wyników po odfiltrowaniu
- Osoby 80 wyników po odfiltrowaniu
- Wynalazki 9 wyników po odfiltrowaniu
- Projekty 31 wyników po odfiltrowaniu
- Laboratoria 2 wyników po odfiltrowaniu
- Zespoły Badawcze 5 wyników po odfiltrowaniu
- Aparatura Badawcza 1 wyników po odfiltrowaniu
- Kursy Online 123 wyników po odfiltrowaniu
- Wydarzenia 2 wyników po odfiltrowaniu
Filtry wybranego katalogu
Wyniki wyszukiwania dla: CHARAKTERYSTYKA SPEKTROSKOPOWA
-
KPD | Kolekcja Plazmidów i Drobnoustrojów
Laboratoria -
Laboratorium Materiałów Optoelektronicznych Innowacyjnych Materiałów i Displejów – Centrum Zaawansowanych Technologii
LaboratoriaStanowisko do optycznych nieinwazyjnych badań właściwości i charakteryzacji materiałów i elementów pozwalające na optymalizację technologii ich wytwarzania i rozszerzenie domeny ich zastosowań z wykorzystaniem:; • optycznej tomografii koherentnej – jest to metoda umożliwiająca nieinwazyjne badania cienkich warstw i elementów,; • spektroradiometrii – jest to metoda umożliwiająca badania właściwości displejów, źródeł światła i elementów...