Wyniki wyszukiwania dla: MIKROSKOPIA IMPEDANCYJNA - MOST Wiedzy

Twoje konto

zaloguj

Wyszukiwarka

Wyniki wyszukiwania dla: MIKROSKOPIA IMPEDANCYJNA

Filtry

wszystkich: 411
wybranych: 1

wyczyść wszystkie filtry

Filtry wybranego katalogu

  • Rok publikacji

  • Dziedzina

  • Jednostka administracyjna

  • Model otwartości

  • Źródło danych

wyczyść Filtry wybranego katalogu

Wyniki wyszukiwania dla: MIKROSKOPIA IMPEDANCYJNA

  • Exemplary AFM application in cosmetology

    Dane Badawcze
    open access - seria: Scanning Probe Microscopies data

    Atomic force microscopy can be used in the diagnosis of the condition of human tissues such as skin, nails and hair. This is obviously related to the use of a variety of cosmetic products and can be understood as an attempt to assess their long-term impact on human appearance and health. An example may be the studies presented in [1] indicating the...