Wyszukiwarka
Filtry
wszystkich: 1080
wybranych: 4
-
Katalog
- Publikacje 731 wyników po odfiltrowaniu
- Osoby 38 wyników po odfiltrowaniu
- Wynalazki 10 wyników po odfiltrowaniu
- Projekty 7 wyników po odfiltrowaniu
- Laboratoria 9 wyników po odfiltrowaniu
- Zespoły Badawcze 12 wyników po odfiltrowaniu
- Aparatura Badawcza 4 wyników po odfiltrowaniu
- Kursy Online 263 wyników po odfiltrowaniu
- Wydarzenia 6 wyników po odfiltrowaniu
Filtry wybranego katalogu
Wyniki wyszukiwania dla: EKRANOWANIE URZĄDZEŃ
-
Stanowisko do badań odporności urządzeń na zaburzenia impulsowe
Aparatura Badawcza -
Stanowisko badawcze "Odporność urządzeń elektrycznych i elektronicznych na wyładowania elektryczności statycznej"
Aparatura BadawczaBadania sprzętu elektrycznego i elektronicznego, narażonego na wyładowania elektryczności statycznej, pochodzące bezpośrednio od operatorów, jak również występujące pomiędzy obiektami sąsiadującymi.
-
Stanowisko badawcze "Odporność urządzeń elektrycznych i elektronicznych zasilanych z sieci prądu przemiennego jedno- i trójfazowej"
Aparatura BadawczaWykonywanie badań odporności urządzeń elektrycznych i elektronicznych na zapady i zaniki napięcia zasilania, zgodnie z normami: IEC 61000-4-4 i IEC 61000-4-5. Zapady i zaniki napięcia występują odpowiednio w jednej i trzech fazach sieci zasilającej badane urządzenie.
-
Stanowisko badawcze "Odporność urządzeń elektrycznych i elektronicznych na zaburzenia przewodzone, indukowane przez pola o częstotliwości radiowej"
Aparatura BadawczaWykonywanie badań odporności urządzeń elektrycznych i elektronicznych na zaburzenia przewodzone, indukowane przez pola o częstotliwości radiowej, w świetle dyrektywy EMC 2004/108/WE, dotyczącej kompatybilności elektromagnetycznej urządzeń.