prof. dr hab. inż. Alicja Konczakowska
Employment
Publications
Filters
total: 44
Catalog Publications
-
Identification of Optocoupler Devices with RTS Noise
PublicationThe results of noise measurements in low frequency range for CNY 17 type optocouplers are presented. The research were carried out on devices with different values of Current Transfer Ratio (CTR). The methods for identification of Random Telegraph Signal (RTS) in noise signal of optocouplers were proposed. It was found that the Noise Scattering Pattern method (NSP method) enables to identify RTS noise as non-Gaussian component...
-
Classification of high-voltage varistors into groups of differentiated quality
PublicationThe research was aimed on defining a factor of quality for high-voltage varistors using Non-Destructive Testing (NDT) techniques, which could be applied during the production testing. The newly proposed parameter Q determined on the basis of the lowest resonant frequency fr measured within the preselected frequency range was taken into account. The parameter Q was defined for ZnO structures after firing, without metallized contacts....
-
Methodology of semiconductor devices classification into groups of differentiated quality
PublicationZaproponowano klasyfikację przyrządów półprzewodnikowych do grup o zróżnicowanej jakości na podstawie ich szumów własnych z zakresu małych częstotliwości. Przedstawiono metodologię umożliwiającą stwierdzenie, czy zaproponowany parametr szumowy X dla danego typu przyrządu półprzewodnikowego może być stosowany do określenia jakości. Sprecyzowano przebieg badań wstępnych bazujących na ocenie wyników pomiarów szumów własnych z zakresu...
-
The Low Frequency Noise Behaviour of SiC MESFETs
Publication -
RTS Noise in Optoelectronic Coupled Devices
PublicationPrzedstawiono wyniki pomiarów szumów z zakresu małuch częstotliwości transoptorów typu CNY17. Pomiary wykonano w systemie zaprojektowanym i skonstruowanym przez Autorów. Stwierdzono występowanie szumów RTS w kilku egzemplarzach badanej próby transoptorów. Przeprowadzono analizę szumów RTS, zarówno w dziedzinie czasu, jak i w dziedzinie częstotliwości. Oszacowano wartość częstotliwości, przy której występują szumy wybuchowe, na...
-
APPLICATION OF INFRARED THERMOGRAPHY TO NON-CONTACT TESTING OF AD/DC POWER SUPPLY
PublicationTesting of AC/DC power supplies using the thermography was carried out in order to assess their assembly and operation correctness before launching them on the market. The investigation was carried out for 17 AC/DC power supplies which passed the standard tests (measurements of their basic parameters and characteristics). The investigation consisted of two steps. In the first step the dispersion of temperature on power supply boards...
-
Identification of inherent noise components of semiconductor devices on an example of optocouplers
PublicationIn the paper, a method of estimation of parameters of Gaussian and non-Gaussian components in the noise signal of semiconductor devices in a frequency domain is proposed. The method is based on composing estimators of two spectra, corresponding to noise (Gaussian component) and two-level RTS noise (non-Gaussian component). The proposed method can be applied for precise evaluation of the corner RTS frequency fRTS in the noise...
-
Silicon carbide application issues
PublicationThe main goals of Task 3 and Task 4 of the ordered project ''New technologies based on silicon carbide and their application in HF, high power and high temperature electronics'' are presented
-
Piece-wise constant approximation method of identification of RTS noise
PublicationPrzedstawiono nową metodę wydzielania szumów RTS z całkowitych szumów przyrządów półprzewodnikowych. Metoda ta oparta jest na aproksymacji liniowo odcinkowej przebiegu szumowego.Przedstawiono wyniki zastosowania tej metody do wydzielenia dwupoziomowego szumu RTS z szumu przyrządu półprzewodnikowego.
-
Szumowy model transoptora z uwzględnieniem źródeł szumów typu 1/f^alfa
PublicationW publikacji zaprezentowano ideowy zastepczy schemat szumowy transoptora. Schemat przedstawiono na podstawie wyników pomiarów szumów. Schemat zawiera wszystkie źródła szumów, które występują w diodzie LED, fototranzystorze oraz kanale optycznym. Zaprezentowano proces konstruowania modelu szumowego transoptora stoworzonego w programie typu SPICE. Makromodel pozwala modelować wartości parametru alfa, który wykorzystuje się opisu...
-
An automatic system for identification of random telegraph signal (RTS) noise in noise signals
PublicationIn the paper the automatic and universal system for identification of Random Telegraph Signal (RTS) noise as a non-Gaussian component of the inherent noise signal of semiconductor devices is presented. The system for data acquisition and processing is described. Histograms of the instantaneous values of the noise signals are calculated as the basis for analysis of the noise signal to determine the number of local maxima of histograms...
-
Analysis of noise properties of the optocoupler device
PublicationIn the paper the localization of a source of Random Telegraph Signal noise (RTS noise) in optocoupler devices type CNY 17 were defined. The equivalent noise circuit in low frequency noise for these type optocouplers was proposed.
-
Metody analizy szumu telegrafistów przyrządów półprzewodnikowych
PublicationScharakteryzowano szum telegrafistów (Random Telegraph Signal - RTS), który może występować w szumie własnym przyrządów półprze-wodnikowych, jako składowa niegaussowska. Podkreślono, że szum telegrafistów jest efektem defektów materiałów zastosowanych w produk-cji przyrządów półprzewodnikowych lub nieprawidłowości procesu pro-dukcyjnego. Przedstawiono metody identyfikacji wielopoziomowego szumu telegrafistów, na przykładzie przebiegów...
-
A new methof for identyfication of RTS noise
PublicationIn the paper a new method, called the Noise Scattering Pattern (NSP) method, for RTS noise identyfication in a noise signal is presented. Examples of patterns of the NSP method are included.
-
Szumy z zakresu małych częstotliwości - Metody pomiaru, zastosowanie do oceny jakości przyrządów półprzewodnikowych
PublicationPrzedstawiono ogólną ideę oceny jakości elementów elektronicznych na podstawie szumów z zakresu małych częstotliwości. Szczegółowe rozważania ograniczono do szumów przyrządów półprzewodnikowych. Przedstawiono zagadnienia związane ze źródłami szumów z zakresu m.cz., metod pomiaru szumów własnych, systemów do pomiaru szumów własnych przyrządów półprzewodnikowych. Opisano metody klasyfikacji przyrządów do grup o zróżnicowanej jakości....
-
Budowa i badania prototypowych podukładów funkcjonanych elektronicznych i energoelektronicznych, w tym wysokotemperaturowych, wykorzystujących opracowane elementy i przyrządy - zadanie 3. projektu ''Nowe technologie na bazie węglika krzemu i ich zastosowania w elektronice wielkich częstotliwości, dużych mocy i wysokich temperatur''
PublicationPrzedstawiono główne cele zadania 3. projektu zamawianego nt. ''Nowe technologie na bazie węglika krzemu i ich zastosowania w elektronice wielkich częstotliwości dużych mocy i wysokich temperatur''. Są to: badania typowych układów elektronicznych i energoelektronicznych z zastosowaniem kompercyjnych elementów i przyrządów z SiC w celu opracowania rozwiązań, które będą mogły być stosowane w praktyce i będą korzystniejsze niż zastosowane...
-
Przeprowadzenie prób obejmujących miernictwo i charakteryzację opracowanych elementów, przyrządów i prototypowych podukładów funkcjonalnych zgodnie z obowiązującymi normami - zadanie 4. projektu ''Nowe technologie na bazie węglika krzemu i ich zastosowania w elektronice wielkich częstotliwości, dużych mocy i wysokich temperatur''
PublicationPrzedstawionmo główne cele zadania 4. projektu zamawianego nt. ''Nowe technologie na bazie węglika krzemu i ich zastosowania w elektronice wielkich częstotliwości dużych mocy i wysokich temperatur. Są to: analiza właściwości produkowanych obecnie komercyjnych elementów i przyrządów półprzewodnikowych z SiC oraz przygotowanie stanowisk laboratoryjnych do pomiarów parametrów i chrakterystyk tych przyrządów.Przewidywane jest opracowanie...
-
A method of identification of RTS components in noise signals
PublicationW artykule przedstawiono oryginalną metodę wydzielania szumu RTS (Random Telegraph Signal) - dwupoziomowego lub wielopoziomowego - z sygnału szumowego. Podstawą oceny jakości metody jest założenie, że wartości chwilowe szumu RTS mają rozkład niegaussowski natomiast pozostała część sygnału ma rozkład gaussowski.Algorytm identyfikacji wielopoziomowych szumów RTS w sygnałach szumowych małej częstotliwości oparty został na aproksymacji...
-
High-performance analog circuits : bipolar noise
PublicationOmówiono typowe źródła szumów występujące w tranzystorach bipolarnych, a mianowicie: cieplne, śrutowe, generacyjno-rekombinacyjne, 1/f, 1/f2, wybuchowe (RTS),lawinowe. Przedstawiono szumowy schemat zastępczy tranzystora bipolarnego oraz opisano wydajności poszczególnych źródeł szumów. Przytoczono informacje o zastępczej rezystancji tranzystora szumów oraz współczynniku szumów.
-
Ocena parametrów statycznych diod Schottky'ego z SiC
PublicationPrzedstawiono wyniki pomiarów parametrów statycznych 3 prób diod Schottky'ego produkcji CREE i 2 prób diod Schottky'ego produkcji INFINEON. Stwierdzono, że charakterystyki przy polaryzacji diod w kierunku przewodzenia są w zasadzie identyczne, natomiast przy polaryzacji w kierunku zaporowym wykazują istotne różnice, szczególnie w zakresie napięć w kierunku zaporowym powyżej 600 V
seen 804 times