Department of Metrology and Optoelectronics - Administrative Units - Bridge of Knowledge

Search

Department of Metrology and Optoelectronics

Filters

total: 772

  • Category
  • Year
  • Options

clear Chosen catalog filters disabled

Catalog Publications

Year 2013
Year 2012
Year 2010
Year 2009
  • An application of the TCRBF neural network in multi-node fault diagnosis method
    Publication

    - Year 2009

    Przedstawiono nową metodę samo-testowania części analogowej w systemach elektronicznych sterowanych mikrokontrolerami. Układ badany pobudzany jest przebiegiem sinusoidalnym przez generator zamontowany w systemie, a jego odpowiedź jest próbkowana w wybranych węzłach przez wewnętrzny przetwornik A/C mikrokontrolera. Detekcja i lokalizacja uszkodzenia jest dokontwana przez sieć neuronową typu TCRBF. Procedurę diagnostyczną zaimplementowano...

Year 2006
  • On-Board Detection, Classification and Evaluation of Nonlinearities
    Publication

    - Year 2006

    Artykuł prezentuje tester wbudowany BIT przeznaczony do wydobywania informacji diagnostycznej z sygnału generowanego przy zastosowaniu oscylacyjnej metody testowania. Układ bazujący na technice modulacji Sigma-Delta i sztucznych sieciach neuronowych może wykrywać nieliniowość w sygnale testującym, określać rodzaj nieliniowości i szacować zawartość harmonicznych.

Year 2004
Year 2003