Abstract
W artykule przedstawiono system pomiarowy ukierunkowany na testowanie i diagnostykę obiektów elektronicznych i nieelektrycznych. Charakterystyczną cechą systemu jest wyposażenie w bibliotekę metod spektroskopii impedancyjnej umożliwiających identyfikację elementów niedostępnych zaciskowo. Omówiono architekturę systemu, podstawy teoretyczne metod wyznaczania widma impedancji oraz przedstawiono wyniki weryfikacji praktycznej metod na przykładzie dwójnika cztero-elementowego RC.
Authors (2)
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Articles
- Type:
- artykuł w czasopiśmie wyróżnionym w JCR
- Published in:
-
Przegląd Elektrotechniczny
pages 204 - 207,
ISSN: 0033-2097 - Language:
- Polish
- Publication year:
- 2011
- Bibliographic description:
- Hoja J., Lentka G.: System pomiarowy spektroskopii impedancyjnej do diagnostyki obiektów technicznych// Przegląd Elektrotechniczny. -, nr. nr 10 (2011), s.204-207
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 92 times
Recommended for you
Application of dynamic impedance spectroscopy to atomic force microscopy
- K. Darowicki,
- A. Zieliński,
- J. K. Kurzydłowski
2008