Abstract
W pracy przedstawiono metody i układy przyspieszające pomiary widma impedancji i identyfikację elementów układów zastępczych obiektów technicznych. Zostały one ukierunkowane na implementację w tanich przyrządach diagnostycznych nadających się do pracy w różnych warunkach, m. in. w terenie. Aby skrócić czas pomiaru impedancji zastosowano różne sygnały pobudzenia: harmoniczne, wieloharmoniczne, impuls prostokątny. Do identyfikacji elementów układu zastępczego opracowano metodę wykorzystującą przekształcenie biliniowe, wymagającą jedynie pomiaru na kilku optymalnie dobranych częstotliwościach. Na podstawie uzyskanych wyników badań stwierdzono, że zaproponowane metody zapewniają znaczne skrócenie procedury spektroskopii impedancyjnej.
Authors (2)
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Monographic publication
- Type:
- rozdział, artykuł w książce - dziele zbiorowym /podręczniku o zasięgu krajowym
- Title of issue:
- Problemy metrologii elektronicznej i fotonicznej, Nr 4 strony 201 - 252
- Language:
- Polish
- Publication year:
- 2011
- Bibliographic description:
- Hoja J., Lentka G.: Szybkie metody spektroskopii impedancyjnej// Problemy metrologii elektronicznej i fotonicznej, Nr 4/ ed. ed. Janusz Mroczka Wrocław: Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławkiej, 2011, s.201-252
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 174 times
Recommended for you
Application of dynamic impedance spectroscopy to atomic force microscopy
- K. Darowicki,
- A. Zieliński,
- J. K. Kurzydłowski