Wyszukiwarka
ISSN:
0304-3991
eISSN:
1879-2723
Dyscypliny:
- automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
- inżynieria biomedyczna (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
- inżynieria materiałowa (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
- nauki farmaceutyczne (Dziedzina nauk medycznych i nauk o zdrowiu)
- nauki biologiczne (Dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych)
- nauki fizyczne (Dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych)
Punkty Ministerialne: Pomoc
| Rok | Punkty | Lista |
|---|---|---|
| Rok 2024 | 140 | Ministerialna lista czasopism punktowanych 2024 |
| Rok | Punkty | Lista |
|---|---|---|
| 2024 | 140 | Ministerialna lista czasopism punktowanych 2024 |
| 2023 | 140 | Lista ministerialna czasopism punktowanych 2023 |
| 2022 | 140 | Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022) |
| 2021 | 140 | Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022) |
| 2020 | 140 | Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022) |
| 2019 | 140 | Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022) |
| 2018 | 50 | A |
| 2017 | 50 | A |
| 2016 | 50 | A |
| 2015 | 40 | A |
| 2014 | 35 | A |
| 2013 | 35 | A |
| 2012 | 35 | A |
| 2011 | 35 | A |
| 2010 | 32 | A |
Model czasopisma:
Hybrydowe
Punkty CiteScore:
| Rok | Punkty |
|---|---|
| Rok 2023 | 4.6 |
| Rok | Punkty |
|---|---|
| 2023 | 4.6 |
| 2022 | 5.2 |
| 2021 | 5.5 |
| 2020 | 5 |
| 2019 | 4.8 |
| 2018 | 5 |
| 2017 | 4.9 |
| 2016 | 5.5 |
| 2015 | 4.9 |
| 2014 | 5.1 |
| 2013 | 4.8 |
| 2012 | 4.6 |
| 2011 | 4 |
Impact Factor:
Zaloguj się aby zobaczyć Współczynnik Impact Factor dla tego czasopisma
Sherpa Romeo:
Prace opublikowane w tym czasopiśmie
Filtry
wszystkich: 1
Katalog Czasopism
Rok 2019
-
Multifrequency Nanoscale Impedance Microscopy (m-NIM): A novel approach towards detection of selective and subtle modifications on the surface of polycrystalline boron-doped diamond electrodes
PublikacjaIn this paper, we describe the modification of Nanoscale Impedance Microscopy (NIM), namely, a combination of contact-mode atomic force microscopy with local impedance measurements. The postulated approach is based on the application of multifrequency voltage perturbation instead of standard frequency-by-frequency analysis, which among others offers more time-efficient and accurate determination of the resultant impedance spectra...
wyświetlono 839 razy