Scanning electron microscopy (SEM) images of the boron-doped carbon nanowalls surfaces - Open Research Data - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Scanning electron microscopy (SEM) images of the boron-doped carbon nanowalls surfaces

Opis

The dataset contains the scanning electron micrographs (SEM), revealing the surface morphology of boron-doped carbon nanowalls electrodes on silicon substrates. The surface is characterized by nano-walled structures. The obtained electrodes were doped with boron at the level of [B]/[C] = 2000ppm  in the gas atmosphere during the synthesis.

The selected micrographs were utilized when preparing the manuscript published in Advanced Materials Interfaces: DOI 10.1016/j.bios.2022.114222

Plik z danymi badawczymi

SEM_SERIES4.zip
42.0 MB, S3 ETag 8fe15f6d8adb0ca2fdd03833434f0226-1, pobrań: 17
Hash pliku liczony jest ze wzoru
hexmd5(md5(part1)+md5(part2)+...)-{parts_count} gdzie pojedyncza część pliku jest wielkości 512 MB

Przykładowy skrypt do wyliczenia:
https://github.com/antespi/s3md5
pobierz plik SEM_SERIES4.zip

Informacje szczegółowe o pliku

Licencja:
Creative Commons: by 4.0 otwiera się w nowej karcie
CC BY
Uznanie autorstwa
Dane surowe:
Dane zawarte w datasecie nie zostały w żaden sposób przetworzone.

Informacje szczegółowe

Rok publikacji:
2022
Data zatwierdzenia:
2022-07-29
Język danych badawczych:
angielski
Dyscypliny:
  • inżynieria materiałowa (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
DOI:
Identyfikator DOI 10.34808/dvwd-me44 otwiera się w nowej karcie
Finansowanie:
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

Słowa kluczowe

Powiązane zasoby

Cytuj jako

wyświetlono 70 razy