Wyszukiwarka
Opis
The scanning tunneling microscope [1] is a powerful research tool that allows, among other things, to obtain images with atomic resolution. A serious limitation of the described microscope is its limited applicability relating to conductive and semiconductor materials and the reproducibility of measurements depending on the preparation of the measuring probe. In the case of the discussed technique, the probe preparation process is carried out by the operator, which may lead to low repeatability of the results. The file presents the results of imaging a structure composed of periodically arranged conical structures 3 µm apart. The sample was covered with a layer of sputtered gold to ensure conductivity and then scanned using several probes prepared in the same electrochemical process. There are quite significant differences that indicate the need for careful preparation of measuring elements used in tunnel microscopy.
[1] J. Tersoff, D.R. Hamann, Theory of scanning tunneling microscope, Phys. Rev. B. 31 (1985) 805–813
Plik z danymi badawczymi
hexmd5(md5(part1)+md5(part2)+...)-{parts_count} gdzie pojedyncza część pliku jest wielkości 512 MBPrzykładowy skrypt do wyliczenia:
https://github.com/antespi/s3md5
Informacje szczegółowe o pliku
- Licencja:
-
otwiera się w nowej karcie
CC BY-NCUżycie niekomercyjne - Dane surowe:
- Dane zawarte w datasecie nie zostały w żaden sposób przetworzone.
- Oprogramowanie:
- Gwyddion
Informacje szczegółowe
- Rok publikacji:
- 2021
- Data zatwierdzenia:
- 2021-05-28
- Język danych badawczych:
- angielski
- Dyscypliny:
-
- nauki chemiczne (Dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych)
- DOI:
- Identyfikator DOI 10.34808/eds0-ka26 otwiera się w nowej karcie
- Seria:
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
Słowa kluczowe
Cytuj jako
Autorzy
wyświetlono 41 razy