A Model for Low Frequency Noise Generation in MOSFETs. - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

A Model for Low Frequency Noise Generation in MOSFETs.

Abstrakt

Przedstawiono model generacji szumów małoczęstotliwosciowych tranzystora MOS. Model został użyty do symulacji szumów cienkotlenkowych tranzystorów MOS. Wyniki symulacji porównano z danymi pomiarowymi. Zaprezentowano sposób wykorzystania pomiarów szumów m.cz. do wyznaczania niektórych parametrów charakteryzujących tranzystory MOS.

Cytuj jako

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Aktywność konferencyjna
Typ:
publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
Język:
angielski
Rok wydania:
2004
Opis bibliograficzny:
Szewczyk A., Chroboczek J.: A Model for Low Frequency Noise Generation in MOSFETs. // / : , 2004,
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 14 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi