Wyszukiwarka
Abstrakt
In the paper, a new method, called the noise scatterin pattern method (NSP method), for random telegraph signal noise identyfication in the inherent noise of semiconductor devices is described. A block diagram of a noise measurement system based on the NSP method is presented. Examples of patterns of the NSP method are presented.
Autorzy (3)
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuł w czasopiśmie z listy filadelfijskiej
- Opublikowano w:
-
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT
nr 57,
strony 1199 - 1206,
ISSN: 0018-9456 - Język:
- angielski
- Rok wydania:
- 2008
- Opis bibliograficzny:
- Konczakowska A., Cichosz J., Szewczyk A.: A new nethod for RTS noise of semiconductor devices identification// IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. -Vol. 57., nr. no 6 (2008), s.1199-1206
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 126 razy