A new nethod for RTS noise of semiconductor devices identification - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

A new nethod for RTS noise of semiconductor devices identification

Abstrakt

In the paper, a new method, called the noise scatterin pattern method (NSP method), for random telegraph signal noise identyfication in the inherent noise of semiconductor devices is described. A block diagram of a noise measurement system based on the NSP method is presented. Examples of patterns of the NSP method are presented.

Cytuj jako

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Słowa kluczowe

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Publikacja w czasopiśmie
Typ:
artykuł w czasopiśmie z listy filadelfijskiej
Opublikowano w:
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT nr 57, strony 1199 - 1206,
ISSN: 0018-9456
Język:
angielski
Rok wydania:
2008
Opis bibliograficzny:
Konczakowska A., Cichosz J., Szewczyk A.: A new nethod for RTS noise of semiconductor devices identification// IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. -Vol. 57., nr. no 6 (2008), s.1199-1206
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 32 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi