Wyszukiwarka
Abstrakt
In recent years, there is noticeable interest in application of various types of scanning probe microscopy in material science research. One of them is contact atomic force microscopy combined with local impedance measurements, known as nanoscale impedance microscopy. Literature references present its application in investigations of new materials, microelectronics diagnostics, or research of protective coatings performance. In this paper, the authors present assumptions of methodology, important modes of operation, practical aspects of measurement system, and also exemplary results of application in fields of materials’ characterization.
Cytowania
-
5
CrossRef
-
0
Web of Science
-
0
Scopus
Autor (1)
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- publikacja w in. zagranicznym czasopiśmie naukowym (tylko język obcy)
- Opublikowano w:
-
Surface Innovations
nr 3,
wydanie 3,
strony 181 - 189,
ISSN: 2050-6252 - Tytuł wydania:
- Surface Innovations strony 181 - 189
- Język:
- angielski
- Rok wydania:
- 2015
- Opis bibliograficzny:
- Zieliński A.. Application of different modes of nanoscale impedance microscopy in materials research. Surface Innovations, 2015, Vol. 3, iss. 3, s.181-189
- DOI:
- Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.1680/jsuin.15.00006
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 86 razy
Publikacje, które mogą cię zainteresować
Nitrogen-Doped Diamond Film for Optical Investigation of Hemoglobin Concentration
- D. Majchrowicz,
- M. Kosowska,
- K. J. Sankaran
- + 5 autorów
2018