Application of different modes of nanoscale impedance microscopy in materials research - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Application of different modes of nanoscale impedance microscopy in materials research

Abstrakt

In recent years, there is noticeable interest in application of various types of scanning probe microscopy in material science research. One of them is contact atomic force microscopy combined with local impedance measurements, known as nanoscale impedance microscopy. Literature references present its application in investigations of new materials, microelectronics diagnostics, or research of protective coatings performance. In this paper, the authors present assumptions of methodology, important modes of operation, practical aspects of measurement system, and also exemplary results of application in fields of materials’ characterization.

Cytowania

  • 5

    CrossRef

  • 0

    Web of Science

  • 0

    Scopus

Cytuj jako

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Słowa kluczowe

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Publikacja w czasopiśmie
Typ:
publikacja w in. zagranicznym czasopiśmie naukowym (tylko język obcy)
Opublikowano w:
Surface Innovations nr 3, wydanie 3, strony 181 - 189,
ISSN: 2050-6252
Tytuł wydania:
Surface Innovations strony 181 - 189
Język:
angielski
Rok wydania:
2015
Opis bibliograficzny:
Zieliński A.. Application of different modes of nanoscale impedance microscopy in materials research. Surface Innovations, 2015, Vol. 3, iss. 3, s.181-189
DOI:
Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.1680/jsuin.15.00006
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 46 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi