Wyszukiwarka
Abstrakt
Dynamic impedance spectroscopy, designed for measuring nonstationary systems, was used in combination with scanning probe microscopy. Using this approach, impedance mapping could be carried-out simultaneously with topography scanning. Therefore, correlation of electrical properties with particular phases of an examined sample was possible. The sample used in this study was spheroidal graphite cast iron with clearly defined phases having significantly different properties. Additionally, impedance-force curves were made at graphite precipitation and ferrite matrix to illustrate the relation between impedance and the force applied to a probe.
Autorzy (3)
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuł w czasopiśmie wyróżnionym w JCR
- Opublikowano w:
-
MICROSCOPY AND MICROANALYSIS
nr 20,
wydanie 2,
strony 582 - 585,
ISSN: 1431-9276 - Język:
- angielski
- Rok wydania:
- 2014
- Opis bibliograficzny:
- Tobiszewski M., Arutunow A., Darowicki K.: Application of dynamic impedance spectroscopy to scanning probe microscopy.// MICROSCOPY AND MICROANALYSIS. -Vol. 20, iss. 2 (2014), s.582-585
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 106 razy