Wyszukiwarka
Abstrakt
W artykule przedstawiono emulator uszkodzeń analogowych bazujący na mikrosystemie jednoukładowym. Użycie struktur programowalnych znacznie ułatwia wprowadzanie uszkodzeń parametrycznych pojedynczych i wielokrotnych w szerokim zakresie zmian wartości parametrów. Urządzenie służy do wspomagania badań w zakresie testowania zorientowanego na uszkodzenia. Mechanizm dynamicznej rekonfiguracji układu obniża koszty i przyspiesza eksperymentalną weryfikacje nowych metod testowania.
Autor (1)
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuł w czasopiśmie wyróżnionym w JCR
- Opublikowano w:
-
Przegląd Elektrotechniczny
strony 136 - 139,
ISSN: 0033-2097 - Język:
- polski
- Rok wydania:
- 2011
- Opis bibliograficzny:
- Toczek W.: Emulator analogowych uszkodzeń parametrycznych// Przegląd Elektrotechniczny. -, nr. 10 (2011), s.136-139
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 57 razy