Wyszukiwarka
Abstrakt
Przedstawiono analityczną metodę doboru optymalnego progu komparatora, różnicującego nieprawidłowe i poprawne odpowiedziukładu testowanego. Obliczenia, wykonywane z uwzględnieniem niepewności pomiaru i tolerancji produkcyjnych, mają na celu uzyskanieoptymalnych poziomów uszkodzeń i straty uzysku. Wykorzystano modele probabilistyczne odpowiedzi układu testowanego i procesu pomiarowego.
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Aktywność konferencyjna
- Typ:
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Tytuł wydania:
- IX Szkoła- konferencja: Metrologia wspomagana komputerowo, MWK 2011 Waplewo 24-27 maja 2011 r. - [CD] strony 114 - 115
- Język:
- polski
- Rok wydania:
- 2011
- Opis bibliograficzny:
- Toczek W.: Projektowanie testu układu elektronicznego// IX Szkoła- konferencja: Metrologia wspomagana komputerowo, MWK 2011 Waplewo 24-27 maja 2011 r. - [CD]/ ed. Instytut Systemów Elektronicznych Wydział Elektroniki Wojskowej Akademii Technicznej Warszawa: Wojskowa Akademia Techniczna, 2011, s.114-115
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 95 razy