Projektowanie testu układu elektronicznego - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Projektowanie testu układu elektronicznego

Abstrakt

Przedstawiono analityczną metodę doboru optymalnego progu komparatora, różnicującego nieprawidłowe i poprawne odpowiedziukładu testowanego. Obliczenia, wykonywane z uwzględnieniem niepewności pomiaru i tolerancji produkcyjnych, mają na celu uzyskanieoptymalnych poziomów uszkodzeń i straty uzysku. Wykorzystano modele probabilistyczne odpowiedzi układu testowanego i procesu pomiarowego.

Cytuj jako

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Słowa kluczowe

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Aktywność konferencyjna
Typ:
publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
Tytuł wydania:
IX Szkoła- konferencja: Metrologia wspomagana komputerowo, MWK 2011 Waplewo 24-27 maja 2011 r. - [CD] strony 114 - 115
Język:
polski
Rok wydania:
2011
Opis bibliograficzny:
Toczek W.: Projektowanie testu układu elektronicznego// IX Szkoła- konferencja: Metrologia wspomagana komputerowo, MWK 2011 Waplewo 24-27 maja 2011 r. - [CD]/ ed. Instytut Systemów Elektronicznych Wydział Elektroniki Wojskowej Akademii Technicznej Warszawa: Wojskowa Akademia Techniczna, 2011, s.114-115
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 57 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi