Wyszukiwarka
Abstrakt
Fiber optic interferometers have a wide range of applications, including biological and chemical measurements. Nevertheless, in the case of a reflective interferometer setup, standard silver mirrors cannot be used in every measurement, due to their chemical activity. This work investigates the surface quality of a thin optical layer of silicon nitride (SiN), which can serve as an alternative material for silver mirrors. We present measurements carried out with a Fabry-Perot fiber-optic interferometer working in a reflective mode. Measurement results allow us to determine the surface quality of the investigated layer.
Cytowania
-
0
CrossRef
-
0
Web of Science
-
0
Scopus
Cytuj jako
Pełna treść
pobierz publikację
pobrano 36 razy
- Wersja publikacji
- Accepted albo Published Version
- DOI:
- Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.4302/plp.v13i3.1096
- Licencja
-
otwiera się w nowej karcie
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuły w czasopismach
- Opublikowano w:
-
Photonics Letters of Poland
nr 13,
strony 61 - 63,
ISSN: 2080-2242 - Język:
- angielski
- Rok wydania:
- 2021
- Opis bibliograficzny:
- Gierowski J., Pawłowska S.: Surface quality control of a thin SiN layer by optical measurements// Photonics Letters of Poland -Vol. 13,iss. 3 (2021), s.61-63
- DOI:
- Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.4302/plp.v13i3.1096
- Źródła finansowania:
-
- Działalność statutowa/subwencja
- IDUB
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 119 razy