Wyszukiwarka
Abstrakt
In the paper authors present two methods, which allows to identify the RTS noise in noise signal of semiconductor devices. The first one was elaborated to identify the RTS noise and also to estimate the number of its levels. The second one can be used to estimate all of the parameters of Gaussian and non-Gaussian components in the noise signal in a frequency domain.
Cytowania
-
0
CrossRef
-
0
Web of Science
-
0
Scopus
Autorzy (2)
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Aktywność konferencyjna
- Typ:
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Tytuł wydania:
- Noise and Fluctuations Twentieth International Conference on Noise and Fluctuations (ICNF-2009) Pisa, Italy, 14-19 June 2009 strony 357 - 360
- Język:
- angielski
- Rok wydania:
- 2009
- Opis bibliograficzny:
- Konczakowska A., Stawarz-Graczyk B.: The Methods for RTS Noise Identification// Noise and Fluctuations Twentieth International Conference on Noise and Fluctuations (ICNF-2009) Pisa, Italy, 14-19 June 2009/ ed. eds. Massimo Macucci, Giovanni Basso. Berlin: Springer, 2009, s.357-360
- DOI:
- Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.1063/1.3140473
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 97 razy