Wyszukiwarka
Wykorzystanie logiki rozmytej do diagnostyki uszkodzeń części analogowych w elektronicznych systemach wbudowanych
Abstrakt
W pracy przedstawiono nowe podejście zastosowania modelowania rozmytego do diagnostyki uszkodzeń części analogowej elektronicznych systemów wbudowanych mieszanych sygnałowo przy wykorzystaniu środków programowych i sprzętowych mikrokontrolera sterującego systemem. Zaprezentowano sposób tworzenia słownika uszkodzeń, najważniejsze parametry rozmytych modeli detekcji i lokalizacji uszkodzeń oraz opis działania programowego procesora logiki rozmytej.
Autorzy (2)
Cytuj jako
Pełna treść
pobierz publikację
pobrano 15 razy
- Wersja publikacji
- Accepted albo Published Version
- Licencja
-
otwiera się w nowej karcie
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Opublikowano w:
-
Measurement Automation Monitoring
nr 53,
strony 735 - 738,
ISSN: 2450-2855 - Język:
- polski
- Rok wydania:
- 2007
- Opis bibliograficzny:
- Czaja Z., Załęski D.: Wykorzystanie logiki rozmytej do diagnostyki uszkodzeń części analogowych w elektronicznych systemach wbudowanych// Pomiary Automatyka Kontrola. -Vol. 53., nr. nr 9 bis (2007), s.735-738
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 105 razy