Wyniki wyszukiwania dla: PARAMETRY WYBRANYCH INSTALACJI
Filtry
wszystkich: 3136
wybranych: 1
-
Katalog
- Publikacje 2696 wyników po odfiltrowaniu
- Osoby 140 wyników po odfiltrowaniu
- Wynalazki 13 wyników po odfiltrowaniu
- Projekty 30 wyników po odfiltrowaniu
- Laboratoria 3 wyników po odfiltrowaniu
- Zespoły Badawcze 4 wyników po odfiltrowaniu
- Aparatura Badawcza 1 wyników po odfiltrowaniu
- Kursy Online 237 wyników po odfiltrowaniu
- Wydarzenia 10 wyników po odfiltrowaniu
- Dane Badawcze 2 wyników po odfiltrowaniu
Filtry wybranego katalogu
Wyniki wyszukiwania dla: PARAMETRY WYBRANYCH INSTALACJI
-
The scanning electron microscopy (SEM) studies of low voltage copper cables
Dane BadawczeThe dataset contains the scanning electron microscopy (SEM) images of the low voltage copper cables, which were studied in the article discussing the regulatory requirements for checking the electrical resistance of such cables. The cables were cut and studies in cross-section. The full results were published in: