Wyniki wyszukiwania dla: POMIARY OPTYCZNE

• Elipsometric data analysis used in on-line metal passivation monitoring

  Publikacja

  • R. Bogdanowicz
  • J. Ryl

  - The European Physical Journal-Special Topics - Rok 2007

  Wykorzystano technikę elipsometrii monochromatycznej do opisu on-line warstw tlenkowych, elektroosadzanych na miedzi. Elipsometria jest w stanie dostarczyć informacji odnośnie grubości i współczynników załamania światła układów warstwowych, jednakże wymagane w tym celu jest zbudowanie matematycznego modelu odwzorowującego stałe optyczne układu badanego. W powyższej pracy przedyskutowane zostały różne metody dopasowywania modelu...

• Spectroscopic studies of sol-gel derived thin film structures for integrated optics

  Publikacja

  • M. Gnyba
  • M. Kozanecki
  • P. Wierzba

  - Rok 2005

  Przedstawiono wyniki badania struktur cienkowarstwowych wykonywanych dla zastosowań w optyce zintegrowanej z polimerów hybrydowych (np. w postaci ścieżek śwaitłowodów planarnych). Jakość i jednorodność stuktur badano za pomocą mikroskopii ramanowskiej, mikroskopii optycznej i profilometrii światła białego. Wykonano porównanie wyników uzyskanych tymi trzema metodami.

• The optical properties and band gap energy of nanocrystalline La0.4Sr0.6TiO3 thin films

  Publikacja

  • T. Suzuki
  • P. Jasiński
  • V. Petrovsky
  • H. U. Anderson

  - Rok 2005

  W pracy zbadano wpływ mikrostruktury na właściwości optyczne La0.4Sr0.6TiO3 przygotowanego w postaci cienkiego filmu. Gęsty film o grubości 200nm i wielkości krystalitów 14-30nm został przygotowany na szafirze.