Wyniki wyszukiwania dla: charakterystyki stalopradowe

• Ocena parametrów statycznych diod Schottky'ego z SiC

  Publikacja

  • A. Szewczyk
  • A. Konczakowska
  • B. Stawarz-Graczyk

  - Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania - Rok 2009

  Przedstawiono wyniki pomiarów parametrów statycznych 3 prób diod Schottky'ego produkcji CREE i 2 prób diod Schottky'ego produkcji INFINEON. Stwierdzono, że charakterystyki przy polaryzacji diod w kierunku przewodzenia są w zasadzie identyczne, natomiast przy polaryzacji w kierunku zaporowym wykazują istotne różnice, szczególnie w zakresie napięć w kierunku zaporowym powyżej 600 V

• Low frequency noise and DLTS as silicon solar cell characterization tools

  Publikacja

  • Z. Chobola
  • Z. Ruzicka
  • L. Hasse

  - Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania - Rok 2002

  Praca zawiera wyniki pomiarów DLTS próbek o powierzchni 1 mm2 krzemowych baterii słonecznych wykazujących znaczne niejednorodności wykryte za pomocą metody LBIV (Light Beam Induced Voltage). Wyniki pomiarów charakterystyk stałoprądowych oraz szumowych tych próbek zostały także przedstawione.

• Method and measurement system for DC characteristics measurement of power diodes in very wide current range

  Publikacja

  • J. A. Cichosz
  • A. Szewczyk
  • B. Stawarz-Graczyk

  - Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej - Rok 2012

  W artykule przedstawiono układ pomiarowy do pomiaru charakterystyk stałoprądowych diod. Pomiar przeprowadzany jest metodą impulsową w celu zapewnienia stałej temperatury badanego elementu w trakcie pomiaru. Do zapewnienia odpowiedniej liczby punktów pomiarowych wykorzystano układ zmodyfikowanej drabinki R2R z pojedynczymi kluczami sterującymi.

  Pełny tekst do pobrania w portalu