Wyszukiwarka
Filtry
wszystkich: 4
Wyniki wyszukiwania dla: mikrosystemy elektroniczne
-
Testing method of analog parts for mixed signal microsystems based on microcontrolles.
PublikacjaZaproponowano nową metodę detekcji i lokalizacji pojedynczych uszkodzeń parametrycznych, która może znaleźć zastosowanie do samo-testowania sieci analogowych w mikrosystemach mieszanych sygnałowo sterowanych mikrokontrolerami. Metoda ta jest oparta na przekształceniu transformującym próbki odpowiedzi czasowej na pobudzenie impulsem prostokątnym na krzywe identyfikacyjne na płaszczyźnie. Metoda pozwala na detekcję i lokalizację...
-
Realizacja środowiska współbieżnej symulacji i emulacji heterogenicznych systemów wbudowanych
PublikacjaW niniejszej pracy przedstawiono realizację środowiska współbieżnej symulacji heterogenicznych systemów wbudowanych. Jako prezentację opisanej koncepcji przedstawiono kompletny system współbieżnej weryfikacji systemów heterogenicznych wykorzystujący symulator HDL Active-HDL firmy Aldec, kartę akceleratora HES firmy Alatek, debugger AxD dla procesorów ARM oraz kartę prototypową dla procesorów ARM. Przedstawiono możliwości konfiguracyjne...
-
Metoda diagnostyki uszkodzeń parametrycznych w mieszanych sygnałowo mikrosystemach elektronicznych.
PublikacjaZaproponowano nowe podejście samo-testowania sieci analogowych w mikrosystemach mieszanych sygnałowo sterowanych mikrokontrolerami oparte na zmodyfikowanej metodzie 2D. Cechuje się ono prostymi i łatwymi w implementacji algorytmami diagnostycznymi, które z powodzeniem można zaimplementować w prostych, powszechnie stosowanych mikrokontrolerach z interfejsem SPI oraz nie wymaga nadmiernej rozbudowy mikrosystemu o część testującą...
-
Algorytm diagnostyczny na potrzeby samotestowania mikrosystemów analogowo-cyfrowych opartych na mikrokontrolerach.
PublikacjaPrzedstawiono procedurę samotestowania sieci analogowo-cyfrowych mikrosystemów elektronicznych opartych na mikrokontrolerach. Algorytm ten bazuje na metodzie 2D lokalizacji pojedynczych uszkodzeń parametrycznych. Składa się z części przedtestowej, w której tworzy się słownik uszkodzeń na komputerze PC i testowej zaimplementowanej w programie mikrokontrolera, która to dokonuje detekcji i lokalizacji pojedynczych uszkodzeń...