Nie znaleźliśmy wyników w zadanych kryteriach!
Ale mamy wyniki w innych katalogach.Filtry
wszystkich: 5790
-
Katalog
- Publikacje 3930 wyników po odfiltrowaniu
- Czasopisma 251 wyników po odfiltrowaniu
- Konferencje 12 wyników po odfiltrowaniu
- Wydawnictwa 1 wyników po odfiltrowaniu
- Osoby 483 wyników po odfiltrowaniu
- Wynalazki 18 wyników po odfiltrowaniu
- Projekty 37 wyników po odfiltrowaniu
- Laboratoria 15 wyników po odfiltrowaniu
- Zespoły Badawcze 31 wyników po odfiltrowaniu
- Aparatura Badawcza 4 wyników po odfiltrowaniu
- Kursy Online 757 wyników po odfiltrowaniu
- Wydarzenia 46 wyników po odfiltrowaniu
- Oferty 2 wyników po odfiltrowaniu
- Dane Badawcze 203 wyników po odfiltrowaniu
wyświetlamy 1000 najlepszych wyników Pomoc
Wyniki wyszukiwania dla: diagnostyka liniowych ukladow elektronic
-
Diagnostyka
Czasopisma -
Badanie stabilności uogólnionych liniowych układów dynamicznych
Publikacjateoria stabilności zajmuje się jakościową analizą układów dynamicznych. do badania stabilności uogólnionych układów dynamicznych wykorzystuje się uogólnione wielomiany wykładnicze, które wykorzystywane są w metodzie wyznaczania odpowiedzi układów dynamicznych. takie ujęcie problemu stabilności pozwala badać stabilnoś szerokiej klasy układów dynamicznych w sposób jednolity, np. dla klasycznych układów dynamicznych ciągłych i dyskretnych...
-
Electronics
Czasopisma -
Diagnostyka układów elektronicznych z magistralą testującą
PublikacjaWzrost złożoności i miniaturyzacji układów oraz urządzeń elektronicznych, przyczyniając się do polepszenia ich parametrów użytkowych i obniżania kosztów wytwarzania, wiąże się z niepożądanymi efektami ubocznymi, takimi jak wzrost kosztów aparatury pomiarowo-kontrolnej oraz wzrost pracochłonności, związanej z opracowaniem metod i programów testujących. Problemy te są inspiracją do rozwinięcia metod projektowania tzw. testowalnych...
-
Zdzisław Kowalczuk prof. dr hab. inż.
OsobyW 1978 ukończył studia w zakresie automatyki i informatyki na Wydziale Elektroniki Politechniki Gdańskiej, następnie rozpoczął pracę na macierzystej uczelni. W 1986 obronił pracę doktorską, w 1993 habilitował się na Politechnice Śląskiej na podstawie pracy Dyskretne modele w projektowaniu układów sterowania. W 1996 mianowany profesorem nadzwyczajnym, w 2003 otrzymał tytuł profesora nauk technicznych. W 2006 założył i od tego czasu...
-
Diagnostyka układów elektronicznych z wykorzystaniem magistrali testujących
PublikacjaPrzedstawiono przegląd magistral testujących przeznaczonych do diagnostyki układów elektronicznych: magistralę IEEE 1149.1 dla układów cyfrowych, magistralę IEEE 1149.4 dla układów mieszanych sygnałowo oraz magistralę IEEE 1149.6 dla układów cyfrowych sprzężonych pojemnościowo. Pokazano wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali IEEE 1149.4 do pomiarów interkonektów typu RLC na pakietach układów elektronicznych. Do badań użyto...
-
Testowanie i diagnostyka układów w pełni różnicowych
PublikacjaZaproponowano tester wbudowany realizujący nowe podejście do testowania układów w pełni różnicowych, polegające na pobudzaniu układu sygnałem wspólnym i pomiarze wyjściowego napięcia różnicowego. Tester wykrywa uszkodzenia parametryczne i strukturalne, które powodują zaburzenie symetrii układu i w rezultacie wzrost wartości napięcia różnicowego. Przeprowadzono analizę właściwości diagnostycznych funkcji układowej, na której bazuje...
-
Diagnostyka Laboratoryjna
Czasopisma -
Diagnostyka układów automatycznej synchronizacji prądnic w czasie rzeczywistym
PublikacjaW referacie omówiono prototyp układu do badań UASP w czasie rzeczywistym. Szczególną uwagę poświęcono metodyce prowadzenia badań, architekturze sprzętowej urządzenia, modelom matematycznym układów regulacji napięcia i prędkości kątowej w nim zaimplementowanym oraz systemowi komputerowemu urządzenia. Wskazano na celowość stosowania urządzeń na rzeczywistych obiektach oraz omówiono korzyści z nich wynikające.
-
Strategie testowania i diagnostyki analogowych układów elektronicznych
PublikacjaPraca dotyczy testowania i diagnostyki analogowych układów elektronicznych metodami zorientowanymi na uszkodzenia. Omówiono źródła i klasyfikację uszkodzeń, strategie testowania wykorzystujące nadmiarowość analityczną i sprzętową, wewnątrzobwodowe testowanie pakietów elektronicznych oraz zastosowanie algorytmów klasyfikacji obrazów do lokalizacji uszkodzeń. Wynikiem prac w zakresie metod analitycznych jest opracowanie przyspieszonej...